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- 2020-07-22 发布于北京
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PCI-Express硬件测试方法
目 录
1 PCI-E 物理层概述 5
2 PCI-E 电气子块 (Ver 1.0) 6
2.1 电气子块规则 6
2.1.1 规则：时钟 6
2.1.2 规则： AC 耦合 7
2.1.3 规则：互连 7
2.1.4 规则：终端匹配 7
2.1.5 规则： DC共模电压 7
2.1.6 规则： ESD 7
2.1.7 规则：短路 7
2.1.8 规则：接收检测 7
2.1.9 规则：电气空闲态 9
2.2 电气信号规则 9
2.2.1 规则：信号定义 9
2.2.2 规则：损耗 10
2.2.3 规则：抖动 Jitter和误码率 BER 10
2.2.4 规则：去加重 De-emphasis 10
2.2.5 规则： Beacon唤醒信号 11
2.3 发送端眼图模板 12
2.4 接收端眼图模板 12
2.5 一致性测试负载 13
3 PHY 电气测试项目 13
3.1 通用测试项目 14
3.2 发送端测试项目 14
3.3 接收端测试项目 16
第 2 页 , 共 27 页
3.4 母板测试项目 17
3.5 插卡测试项目 17
4 TEK 测试方案简介 18
4.1 两个 SMA 通道连接 18
4.2 一个带 SMA输入差分探头 P7350SMA测试 18
4.3 两个单端有源探头 P7260测试 19
4.4 一个差分探头 P73xx测试 19
5 PHY 电气测试用例 20
5.1 符合性 _PCI-E 时钟精度测试 20
5.2 符合性 _SSC扩频时钟测试 20
5.3 符合性 _PCI-E 一致性测试 2 1
5.4 符合性 _PCI-E 眼图测试 23
5.5 符合性 _PCI-E 抖动测试 25
5.6 符合性 _PCI-E 通道间偏斜测试 26
5.7 符合性 _PCI-E 插卡功耗测试 26
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