芯片测试总结报告范文.pdfVIP

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2020-08-10 发布于江苏
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芯片测试总结报告范文.pdf

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Power bank 2000-4000 芯片测试报告目的：鉴于原 power bank2000-4000 芯片的输出电流不能满足不断升级、更新手机的需求，继而寻找高电流出去芯片，代替原有芯片，特针对此芯片芯片进行测试，为今后的更改做好铺垫。测试工具：电子负载、稳压电源、万用表、电子温度计、数字电流表。测试内容： 1、输出电流不断上升，输入电压不断下降的状态下，输出效率变化分布； 2、输入为恒压的状态下，不断的提高输出电流，输出效率的变化； 3、输出电流不断上升时，芯片发热温度变化；测试方案： 1 、控制输出电流从 0.3A-1.9A 逐一递升变化（每 0.1A）；稳压电源输出为 4V ，以实际电路输入电压为准，并读取电子负载上的显示参数（输出电压、电流）；输入电压 U0 输出电压 U1 电路板输入电流 I0 输出电流 I1 U1 × I1 μ = U0 × I0 2、控制输出电流从 0.3A-1.9A ，不断调整输入电压，使之为定值 ∀ ，并读取电子负载上的显示参数（输出电压、电流）； U1 × I1 μ = ∀ × I0 3、控制输出电流从 0.3A-1.9A 逐一递升变化（每 0.1A）；芯片等周围部件的温度变化；测试数据： 1、输出电流不断上升，输入电压不断下降的状态下，输出效率变化分布； 2、恒压下的效率变化；  输入 3V 恒压时，随电流的上升，转换效率的变化情况  输入 3.7V 恒压时，随电流的上升，效率的变化情况  输入 4V 恒压时，随电流的上升，效率的变化情况 3、常温下，输出电流不断上升时，芯片发热温度变化