- 2
- 0
- 约1.94千字
- 约 35页
- 2020-08-18 发布于河北
- 举报
第四章集成电路制造工艺;;芯片制造过程;图形转换:将设计在掩膜版(类似于照相底片)上的图形转移到衬底上。
掺杂:根据设计的需要,将各种杂质掺杂在需要的位置上,形成晶体管、接触等。
制膜:制作各种材料的薄膜。
;硅片准备;光刻 (Lithography);光刻工艺流程;光刻三要素:光刻胶、掩膜版和光刻机
–光刻胶又叫光致抗蚀剂,它是由光敏化合物、 基体树脂和有机溶剂等混合而成的胶状液体。
–光刻胶受到特定波长光线的作用后,导致其化学结构发生变化,使光刻胶在某???特定溶液中的溶解特性改变。
正胶(曝光后可溶):分辨率高,在超大规模集成电路工艺中,一般只采用正胶。
负胶(曝光后不可溶) :分辨率差,适于加工线宽≥3?m的线条。
;插图fig.4.6;亮场版和暗场版;曝光的几种方法;图4.7;图形转移:刻蚀技术;干法刻蚀:主要指利用低压放电产生的等离子体中的离子或游离基(处于激发态的分子、原子及各种原子基团等)与材料发生化学反应或通过轰击等物理作用而达到刻蚀的目的。
溅射与离子束铣蚀:通过高能惰性气体离子的物理轰击作用刻蚀,各向异性性好,但选择性较差。
等离子刻蚀(Plasma Etching):利用放电产生的游离基与材料发生化学反应,形成挥发物,实现刻蚀。选择性好、对衬底损伤较小,但各向异性较差。
反应离子刻蚀(Reactive Ion Etching,简称为
原创力文档

文档评论(0)