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X 射线荧光分析技术无损检测贵金属首饰含量中的技巧 随着国内黄金交易市场的全面开放，无损验货接踵而来。本文从贵金属首饰无 损检测应用 x 荧光分析技术的角度，提出一些避免误区的观点。 一、 x射线荧光分析基本原理 所谓荧光，就是在光的照射下发出的光。 x 射线荧光就是被分析样品在 x 射线 照射下发出的 x 射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述 x 射线荧 光的分析，确定被测样品中各组份含量的仪器就是 x 射线荧光分析仪。用 x 射线荧 光分析仪测量贵金属首饰含量是一种不接触、非破坏的测试方法。这种方法是将一 束初级 x 射线照射被分析的样品，使样品中的每种元素的原子都发射出各自特征的 x 射线荧光。于每一种元素的原子能级结构都是特定的，它被激发后跃迁时放出的 x 射线的能量也是特定的，称之为特征 x 射线。通过测定特征 x 射线的能量，便可 以确定相应元素的存在，而特征 x射线的强弱（或者说x射线光子的多少）则代表该 元素的含量。 二、 x 射线荧光分析仪的分类 根据分光方式的不同， x 射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类，也 就是通常所说的能谱仪和波谱仪。通过测定荧光 x 射线的能量实现对被测样品分析 的方式称之为能量色散 x 射线荧光分析，相应的仪器称之为能谱仪，通过测定荧光 x 射线的波长实现对被测样品分析的方式称之为波长色散 x 射线荧光分析，相应的 仪器称之为 X 射线荧光光谱仪。 根据激发方式的不同， x 射线荧光分析可分为源激发和管激发两种 : 用放射性同位素源发出的 x 射线作为原级 x 射线的 x 射线荧光分析仪称为源激 发仪器，其特点是体积较小、结构简单，价格低廉 ；用x射线发生器（又称x光管） 产生原级 x 射线的 x 射线荧光分析仪称为管激发仪器，特点是体积较大、输出强度 高且可调，价格也较昂贵。 以上我们介绍了 x 射线荧光分析仪的基本原理及其主要类型，下面我们着重阐 述一下用 x 射线荧光分析技术无损检测贵金属首饰含量所应注意避免的误区。 误区 1: 强调“荧光”。 过分迷信依赖大型仪器。许多用户错误地认为只有用 x 光管作为激发源的管激 发仪器才是 x 荧光仪，一味地强调所谓“荧光”。事实上，如前所述，无论是采用 x 光管还是采用放射性同位素作为激发源，只要是由 x 射线激发，通过测定被测样 品发出的荧光 x 射线得出其化学成分及含量的仪器，都是 x 荧光分析仪。 误区 2: 重硬件轻软件和技术。 任何一种分析仪器在某一领域的成功应用都是硬件、软件和分析技术有机结合 的结果，三者缺一不可。毫无疑问，硬件是基础，但硬件并不能决定一切。从应用 的角度来讲，硬件只有通过软件才能充分发挥作用，而分析技术涉及仪器应用的每 一个环节。 误区 3: 重价格轻服务。 价格当然是选购商品的重要因素，但不应当是决定性因素。分析仪器各部件质 量及其价格悬殊极大，并且直接决定了仪器的售价，单纯追求价格便宜，很难保证 质量。对于 x 荧光分析仪这样的设备来说，服务往往更 为重要。这里所说的服务不仅指安装调试备品备件供应维修服务等，更为重要 的是应用技术服务。 误区 4: 片面追求准确度忽视精密度。 不重视稳定性和重现性。准确性固然重要，精密度也决不可忽视，首先要关注 的是精密度问题，也就是说，同一样品多次测量 , 其结果应有良好的一致性，每一 测量结果与均值的差要足够小，至于测量值与真值的差，往往属于系统误差，是可 以进行数学校正的。 此外，还应重视仪器的稳定性和重现性。所谓稳定性是指同 一样品连续测量多次 （通常为 21次）的标准偏差 ;而重现性则是同一样品间隔较长时 间后再次测量的结果间的一致性。这两项指标也是 x 射线荧光分析仪器的重要指 标，我们常说的准确测量必须是建立在稳定性和重复性基础之上的。 误区 5: 分析时间越短越好。 x 射线测量是随机事件的统计测量，是由统计规律决定的，计数的绝对量取决 于测量时间，并直接决定着测量误差的大小，足够长的测量时间是测量精度的前提 条件，为了保证测量精度，必须有足够的测量时间以及足够的计数率。 误区 6: 标样滞后且制备麻烦。最好用无标样法。 x 射线荧光分析事实上是一种对比分析，特别是经验系数法，测得的 x 射线强 度与相应元素浓度的对应关系完全是建立在标准样品的基础之上的，必须制备足够 数量的标准样品，标样的质量直接决定了分析结果的可靠性。基本参数法等无标样 分析法一般是用于完全未知样品的初步分析，所谓无标样也只是不需要系列标准样 而已。 综上所述，本文例举了使用 x 射线荧光分析仪种种误区，并不是说此方法不可 以用于贵金属首饰的检测，它的“无损、快速”仍然是其他检测方法所无法比拟 的，只有了解了它的优点和缺点，我们才能正确地应用它，同时我们再和其