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材料分析试题库 选择题： 一、 1. M 层电子回迁到 K 层后，多余的能量放出的特征 X 射线称（ A. Kα； B. K β； C. K γ； D. L α。  B  ） 当 X 射线发生装置是 Cu 靶，滤波片应选（ C ）A． Cu； B. Fe ； C. Ni ； D. Mo 。 3. 当电子把所有能量都转换为 X 射线时，该 X 射线波长称（ A ） 短波限λ 0； B. 激发限λ k； C. 吸收限； D. 特征 X 射线 4. 当 X 射线将某物质原子的 K 层电子打出去后， L 层电子回迁 电子打出核外，这整个过程将产生（ D ）  K 层，多余能量将另一个  L 层 光电子； B. 二次荧光； C. 俄歇电子； D. （ A+C）二、 最常用的 X 射线衍射方法是（ B ）。 A. 劳厄法；  B. 粉末法； C. 周转晶体法；  D. 德拜法。 2. 射线衍射方法中，试样为单晶体的是（ D ） A、劳埃法 B 、周转晶体法 C 、平面底片照相法 D 、 A 和 B 晶体属于立方晶系，一晶面截 x 轴于 a/2 、y 轴于 b/3 、 z 轴于 c/4 ，则该晶面的指标为（ B ） A、 (364) B 、(234) C 、 (213) D 、 (468) 4. 立方晶系中，指数相同的晶面和晶向（ B ） A、相互平行 B 、相互垂直 C 、成一定角度范围 D 、无必然联系 晶面指数（ 111）与晶向指数（ 111）的关系是（ C ）。 A. 垂直； B. 平行； C. 不一定。 6. 在正方晶系中，晶面指数 {100} 包括几个晶面（ B ）。 A.6 ； B.4 ； C.2 D. 1 ；。 7. 用来进行晶体结构分析的 X 射线学分支是（ B ） 射线透射学；射线衍射学；射线光谱学； D. 其它 三、 1、对于简单点阵结构的晶体，系统消光的条件是（ A ） A、不存在系统消光 B 、 h+k 为奇数 C 、 h+k+l 为奇数 D 、h、 k、 l 为异性数 2、立方晶系 {100} 晶面的多重性因子为（ D ） A、2B、3C 、 4 D 、 6 3、洛伦兹因子中，第一几何因子反映的是（ A ） A、晶粒大小对衍射强度的影响 B 、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响 C、衍射线位置对衍射强度的影响 D 、试样形状对衍射强度的影响 4、洛伦兹因子中，第二几何因子反映的是（ B ） A、晶粒大小对衍射强度的影响 B 、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响 C、衍射线位置对衍射强度的影响 D 、试样形状对衍射强度的影响 5、洛伦兹因子中，第三几何因子反映的是（ C ） A、晶粒大小对衍射强度的影响 B 、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响 C、衍射线位置对衍射强度的影响 D 、试样形状对衍射强度的影响 6、对于底心斜方晶体，产生系统消光的晶面有（ C ） A、112 B 、113 C 、101 D 、 111 7、对于面心立方晶体，产生系统消光的晶面有（ C ） A、 200 B 、 220 C 、112 D 、111 8、热振动对 x-ray 衍射的影响中不正确的是（ E ） A、温度升高引起晶胞膨胀 B 、使衍射线强度减小 C 、产生热漫散射 D 、改变布拉 格角 E 、热振动在高衍射角所降低的衍射强度较低角下小 9、将等同晶面个数对衍射强度的影响因子称为（ C ） A、结构因子B 、角因子 C 、多重性因子 D 、吸收因子 四、 1、衍射仪的测角仪在工作时， 如试样表面转到与入射线成 30 度角时， 计数管与入射线成多少度角 ?（ B） A. 30  度；  B. 60  度；  C. 90  度。 2、不利于提高德拜相机的分辨率的是（ A. 采用大的相机半径； B. 采用  D ）。 X 射线较长的波长；  C. 选用大的衍射角；  D.选用 面间距较大的衍射面。 3、德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是（ A、正装法 B 、反装法 C 、偏装法  C ） D 、以上均可 4、样品台和测角仪机械连动时，计数器与试样的转速关系是（ B ） A、 1﹕1 B 、2﹕ 1 C 、 1﹕2 D 、没有确定比例 5、关于相机分辨率的影响因素叙述错误的是（ C ） A、相机半径越大，分辨率越高 B 、θ角越大，分辨率越高 C、 X 射线波长越小，分辨率越高 D 、晶面间距越大，分辨率越低 6、粉末照相法所用的试样形状为（ C ） A、块状 B 、分散 C 、圆柱形  D 、任意形状 7、低角的弧线接近中心孔，高角线靠近端部的底片安装方法为（ A ） A、正装法 B 、反装法 C 、偏装法 D 、任意安