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第十四五章 X射线光谱与电子能谱分析法;一、概述 generalization; 电子能谱分析; 共同点;二、X射线与X射线光谱 X-ray and X-ray spectrum;2.X射线光谱;(2)X射线特征光谱;跃迁定则:;特征光谱——定性依据;三、X射线的吸收、散射与衍射 absorption, diffuse and diffraction of X-ray;X射线的吸收;元素的X射线吸收光谱;2.X射线的散射;(2)非相干散射;3. X射线的衍射;Bragg衍射方程及其作用;内容选择;第十四章 X射线光谱与电子能谱分析法;一、X-射线荧光的产生 creation of X-ray fluorescence;Auger 效应;Moseley 定律;二、X射线荧光光谱仪 X-ray fluorescence spectrometer;晶体分光型X射线荧光光谱仪扫描图;(1)X射线管(光源);(2)晶体分光器;(3)检测器;(4)记录显示;2. 能量色散型X射线荧光光谱仪;能量色散型X射线荧光光谱图;能量色散型X射线荧光光谱图;三、应用 applications;2.定量分析
谱线强度与含量成正比;
(1)标准曲线法
(2)增量法
(3)内标法
3.应用
可测原子序数5~92的元素,可多元素同时测定;
特点:
(1) 特征性强,内层电子跃迁,谱线简单
(2) 无损分析方法,各种形状试样,薄层分析
(3) 线性范围广,微量—常量
缺点:灵敏度低(0.0X%);;内容选择:;第十四章 X射线光谱与电子能谱分析法;一、 晶体特性 property of crystal ;二、多晶粉末衍射分析 multiple crystal powder diffraction analysis;1.仪器特点;2.应用;三、单晶衍射分析 single crystal diffraction analysis;应用;内容选择:;第十四章 X射线光谱与电子能谱分析法;一、基本原理 principles;光电离几率和电子逃逸深度;电子结合能;Date;电子结合能;二、X射线光电子能谱分析法 X-ray photoelectron spectroscopy ;1.谱峰出现规律;2. 谱峰的物理位移和化学位移;3. 电负性对化学位移的影响;4. X射线光电子能谱分析法的应用;特殊样品的元素分析;可从B12中180个不同原子中,检测出其中的一个Co原子;(3)固体化合物表面分析;固体化合物表面分析;(4)化学结构分析;三、紫外光电子能谱分析法ultraviolet photoelectron spectroscopy;为什么电子能谱不能获得振动精细结构
内层电子结合能振动能;
X射线的自然宽度比紫外大;
He I 线宽:0.003eV;
Mg K? 0.68eV ;
振动能级间隔: 0.1eV;;精细结构;紫外光电子能谱:;谱带形状与轨道的键合性质;紫外光电子能谱图; M+* → M+ + h? (荧光X射线)
M+* → M+ + e (Auger电子)
两个过程竞争;
双电离态;
三 (或两)个能级参与;
标记:K LI LII;L MI MII 等;
H、He不能发射Auger电子;;2. Auger电子能量;3. Auger电子产额;4. Auger峰强度;5. Auger电子能谱图;Auger电子能谱图;五、电子能谱分析仪(多功能) electron spectroscopy;1. 激发源;2. 电子能量分析器;3. 检测器;内容选择:
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