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一、 实验目的
1、 熟悉并掌握RS D JK触发器的构成,工作原理和功能测试方法。
2、 学会正确使用触发器集成芯片。
3、 了解不同逻辑功能触发器FF相互转换的方法。
二、 实验仪器及器材
TOC \o 1-5 \h \z 74LS00 二输入端四“与非”门 1 片
74LS74 双D触发器 1 片
74LS112双JK触发器 1 片
三、 实验内容
1、基本RS触发器(RS- FF)功能测试
RS-FFo号:两个TTL与非门首尾相接构成的基本
RS-FF
o
号:
ffi + 1:基本KS.FF电踏、按下面的顺序在
ffi + 1:基本KS.FF电踏
TOC \o 1-5 \h \z Sd=0 R -d=1
Sd=0 R d=1
Sd=0 R -d=1
Sd=0 R d=1
态,将结果观察并记录FF的Q C端的状
态,将结果
填入表中,并说明在上述各种状态下,FF执行的是什么功能?
表
Sd
Rd
Q
Q
逻辑功能
0
1
1
0
置1 (置位)
1
1
1
0
保持(记忆)
1
0
0
1
置0 (复位、清零)
1
1
0
1
保持(记忆)
(2) 、Sd端接低电平,Rd端加脉冲。
(3) 、Sd端接咼电平,Rd端加脉冲。
(4) 、连接Sd、FU,并加脉冲。
记录并观察(2)、( 3)、(4)三种情况下,Q C端的状态。从中你能
否总结出基本RS-FF的Q或C端的状态改变和输入Sd、Rd的关系。
所得的实验结果如下:
(2
(3R 0 I ; I I
(3
0
Q -
Rd S
Q
当Sd、Rd都接低电平时,观察 Q C端的状态。当Sd、Rd同时由低电平 跳为高电平时,注意观察 Q C端的状态,重复3~5次看Q C端的状态是否 相同,以正确理解“不定”状态的含义。 重复多次后Q C端的状态不
相同
2、维持阻塞型 D—FF 功能测试
双D型正边沿维持阻塞型触发器74LS74的逻辑符号如图所示。图中Sd、 Rd端为异步置1端、置0端(或称异步置位、复位端)。CP为时钟脉冲端。 试按下面的步骤做实验:
、分别在Sd、Rd端加低电平,观察并记录 Q C端的状态。
、令Sd、Rd端为高电平,D端分别加高、低电平,用单脉冲作为 CP观 察并记录当CP为L、f、H、J时,Q端状态的变化。
、当Sd二Rd二H CP=0(或CP=)改变D端信号,观察Q端信号,观察Q 端的状态是否变化?
整理上述的实验数据,将结果填入表中。
、令Sd=FRI=H,将D和C端相连,CP加连续脉冲,在图中记录 Q相对于
CP
CP的波形 表
CP
CP的波形 表
S d d
R —
CP
D
Q
Q+1
0
1
X
X
0
1
1
1
1
0
X
X
0
0
1
0
1
1
f
0
0
0
1
0
1
1
J
1
0
1
1
1
CPJK-F QF1010d-T输1
CP
JK-F Q
F
10
1
0
d-T
输
1…0 —
1 —
0…
JK-T Q 0 \ 1
0
图:D-FF及JK-FF、D-T1、JK-T 1的Q C相对的波形
3、负边沿JK触发器功能测试
双JK边沿触发器74LS112的逻辑符号如图所示。
(1)、自拟实验步骤,测试其功能,并将结果填入编
中。
实验步骤:
i将74LS112双JK触发器的1J、1K、1Sd、1Rd接入
不同电平开关,1CP接脉冲信号,1Q和1Q接电平显示
ii按表输入信号,并将并将结果填入编中
(2)、若令J=K=1时,CP端加连续脉冲,用双踪示波器观察 Q-CP波形,并
记录在图中。JK-FF这个Q-CP波形和D-FF的D和C端相连时观察到的Q端的 波形相比较(即第2中的第(4)不实验结果),有何异同?
同:输出的频率相同,输出信号都是在脉冲信号边沿改变。
异:D触发器时在上升沿改变输出状态,JK触发器时在下降沿改变输出状态 表
Sd
Rd
CP
J
J
Q
Q+1
0
1
X
X
X
X
1
1
0
X
X
X
X
0
1
1
J
0
0
0
0
1
1
1
1
J
0
1
X
0
1
1
J
1
0
X
1
1
1
1
1
0
1
1
0
4、触发器功能转换
(1)、将D-FF和JK-FF转换成T触发器,列出表达式,画出实验电路图
T/
T/触发器状态方程:
Q+1 = Q
D触发器状态方程:Q+1 = D
JK触发器状态方程::Qn+1二JQn + KV
所以 D^r:令 D = Qn JK TT:令 J 二 1 , K = 1
实验原理电路图:
其中DT『用74LS74 (双D触发器)
JKt『用74LS112 (双JK触发器)
工、CP
74LS74 (双D触发器和74LS112(双JK触发器)对应的引脚如下: 实验步
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