spc统计过程管制教材.pptVIP

* * Statistical Process Control SPC 統計過程管制 * 講議大綱 Spc的產生 管制圖的分類 X-R管制圖制作步驟 管制圖的判讀法 Ca 、Cp、Cpk * 一、SPC 產生過程 SPC經曆了：1910年---1924年---1939年---1940年四個階段美國在二次世界大戰中為了武器的品質曾經普遍的推廣興使用統計方法故說:品管史就是戰爭史，品管因戰爭而進步 * A.計量值管制圖 a.平均值与全距管制圖(X-R Chart) b.中位值与全距管制圖(X-R Chart) c.個別值与移動全距管制圖(X-Rm Chart) d.平均值与標准差管制圖(X-R Chart) B.計數值管制圖 a.不良率管制圖 b.不良數管制圖 c.缺點數管制圖 d.單位缺點數管制圖 二、管制圖的分類 * 平均值與極差管制圖 ( X ─ R ) A 收集資料 A1 選擇『子組大小、頻率和資料』 A2 建立管制圖及記錄原始資料 A3 計算每個子組的『平均值 ( X ) 和極差 ( R )』 A4 選擇管制圖的刻度 A5 將平均值和極差，標記到管制圖上 三、 X-R管制圖制作步驟 * (1)建立管制圖之步驟 a:選定管制項目 b:收集數據 C:按產品生產之順序或測定順序排列數據 d:數據之分組 sample=2~5, group=20~25 e:將分組之數據紀錄數據記錄表 f:計算平均值X bar g:計算全距 R 平均值與極差管制圖 ( X ─ R ) * h:計算總平均值 X I:計算全距之平均值 R j:查係數A2, D4, D3( 表 12-2 ) k:計算管制界限 l:繪管制界限 m:點圖 n:管制界限之檢討 (1)全界限內並隨機分佈-直接建立管制用管制圖 (2)有點超出規格-調查消除並重新計算管制界限 平均值與極差管制圖 ( X ─ R ) * (3)有點超出原因不明或已查出但無法消除這些點無須 除去. (4)重新計算管制界線後仍有點超出新管制界,無須去除. O.畫直方圖 p.與規格比較 (1)(USL-LSL)(UCL-LCL) =製程能力O.K. (2)(USL-LSL)=(UCL-LCL) =製程能力需調整 (3)(USL-LSL)(UCL-LCL) =製程能力 N.G.,需做製程 能力之改善 (2)建立管制用管制圖 a:記入必要事項 b:做管制界限 平均值與極差管制圖 ( X ─ R ) * 平均值與極差管制圖 ( X ─ R ) C 過程控制說明 C1 首先分析『極差圖』上的資料 ◎ 任何超出管制限的點 ◎ 連續 7 個點，全在中心線之上，或連續上升 ◎ 連續 7 個點，全在中心線之下，或連續下降 可能為：模具受損或機器固定鬆動，或換班、換批 ，或量測系統改變(新人、新量具)。 * 平均值與極差管制圖 ( X ─ R ) ◎ 其他明顯非隨機的圖形 各點與 R 的距離：一般大約『 2 / 3 』的點，應落在中心線 為中心的『 1 / 3 』管制區域內，若非如此，則需進行調查 並改善。 可能為：◎ 管制上、下限或描點計算錯或標示錯。 ◎ 若有『 2 / 3 』的點，落在中心線為中心的『 1 / 3 』 管制區域內，則 『人、機、料、法』已達相當穩定之狀況， ，以此來作為『下一階段』的監控和持續改善。 * 平均值與極差管制圖 ( X ─ R ) C 過程控制說明 C2 識別並標注特殊原因『極差圖』 C3 重新計算『管制上、下限』( 極差圖 ) C4 分析『平均值圖』上的資料 如同『C1』之分析 C5 識別並標注特殊原因『平均值圖』 C6 重新計算『管制上、下限』( 平均值圖 ) * 管制圖判讀法 1.檢定規則一:有單獨一點出現在三個標準差區域之外 2.檢定規則二:連續三點中有兩點落在A區或甚至A區之外者. * 3.檢定規則三:連續五點中有四點落在B區或甚至B區之外者 4.檢定規則四:連續八點落在C區或甚至C區之外者 管制圖判讀法 * 5.檢定規則五:連續五點上升或