基于ATE的高性能FPGA测试方法研究.pdfVIP

基于ATE 的高性能FPGA测试方法研究 摘 要 FieldProgrammableGateArray FPGA 现场可编程门阵列 （ ， ）由于其体积小， 能耗低，性能高和可反复编程等优点成为电子系统设计的主流芯片。随着芯片复 杂度和集成度越来越高，对电子元器件的可靠性试验和筛选的要求也越来越高， FPGA 的测试需求变得尤为迫切。因此在保证测试覆盖率的基础上，减少配置次 数，降低测试成本，提供一套完善的FPGA测试方法和测试流程具有重要的应用 价值。本论文对XilinxFPGA 的测试方法展开研究，论文的主要内容分为以下三 个方面。 按功能结构的不同采用分治法的思想将FPGA划分为三个模块。采用一维阵 列法的思想对可编程逻辑器件 （ConfigurableLogicBlock，CLB）进行测试方法 LookUpTable LUT 设计，对其中的查找表 （ ， ）资源测试方法加以改进，采用区 域划分的方式设计物理约束文件，能有效减少约束文件的编写时间，准确地进行 故障定位，提高故障检测率。可编程输入输出接口 （I/OBlock，IOB）采用设置 双向端口的方式进行测试方法设计，一次测试图形的配置可实现IOB端口双向 传输功能的测试。可编程互连资源 （InterconnectResource，IR）采用确定性布线 方法进行测试。本论文通过配置图形设计与仿真进行了各模块资源的功能测试， 验证了测试方法的可行性。 设计开发了一款通用型矩阵接口板HSCV256_EuroPin_V3，通过添加矩阵切 换电路解决了FPGA 芯片测试中遇到的多电源测试、芯片管脚定义多样性等问 题，实现了不同测试任务的兼容，为FPGA芯片测试提供外围硬件支持。 以国产自动测试设备BC3192EX 为ATE （Automatic Test Equipment）测试 平台。配置测试图形，编写测试程序，通过上机实验完成了芯片的功能测试和参 数测试，验证了FPGA测试方法的可行性。本论文研究的测试方法具有通用性， 可作为XilinxFPGA测试方案的开发模板，提供了一套完善的FPGA测试方法和 测试流程。 关键词：FPGA测试，配置图形，自动测试设备，测试验证 I 目 录 摘 要I AbstractII 第1章 绪论1 1.1研究背景与意义1 1.2FPGA测试技术发展现状1 1.3FPGA测试分类4 1.4 研究内容与组织结构6 1.4.1研究内容6 1.4.2 论文组织结构6 第2章 FPGA器件结构分析与故障分类8 2.1FPGA器件结构分析8 2.1.1逻辑资源CLB结构9 2.1.2 输入/输出模块IOB 结构10 2.1.3 互连资源IR 结构10 2.2FPGA器件故障分类11 2.2.1逻辑资源CLB故障12 2.2.2 输入/输出模块IOB故障12 2.2.3 互连资源IR故障13 2.3本章小结13 第3章 FPGA器件测试方案总体设计14 3.1逻辑资源CLB测试15 3.1.1查找表LUT测试方法设计与仿真16 3.1.2 触发器FlipFlop测试方法验证与仿真21 3.1.3快速进位逻辑CarryLogic测试方法验证与仿真22 3.2 输入/输出模块IOB测试24 3.2.1IOB模块测试方法设计与仿真25 3.3 IR 28 互连资源 测试 3.3.1 IR