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第1章无损检测 1.1概述 1.1.1定义 无损检测是指在不损伤被测材料的情况下，检查材料的内在或表面缺陷，或 测定材料的某些物理量、性能、组织状态等的检测技术。 1.1.2无损检测目的 （1） 查出容器上实际存在缺陷的情况。 （2） 检查压力容器缺陷在使用过程中的扩展情况，从而可以判断该容器能否继 续安全使用。 （3） 测量容器的缺陷，然后根据这些缺陷实际测得的数据，对容器强度进行校 核及安全评定，最终提出该容器是否可以继续使用的可靠结论。 1.1.3射线检测（RT）及缺陷等级评定 目前射线检测主要有X射线检测、丫射线检测、高能X射线检测（能量在1MeV 以上的X射线）和中子射线检测。常用的是 X射线检测、丫射线检测两种。 1.1.4常用的无损检测技术 射线探伤：利用X射线或丫射线在穿透被检物各部分时强度衰减的不同， 检测被检物的缺陷。若将受到不同程度吸收的射线投射到 X射线胶片上 ，经显 影后可得到显示物体厚度变化和内部缺陷情况的照片。如用荧光屏代替胶片，可 直接观察被检物体的内部情况。 超声检测：利用物体自身或缺陷的声学特性对超声波传播的影响，来检测 物体的缺陷或某些物理特性。 在超声检测中常用的超声频率为 0.5?5兆赫（MHZ。 最常用的超声检测是脉冲探伤。 渗透探伤：利用某些液体对狭窄缝隙的渗透性来探测表面缺陷。常用的渗 透液为含有有色染料或荧光的液体。 磁粉探伤：通过磁粉在物体缺陷附近漏磁场中的堆积来检测物体表面或近 表面处的缺陷，被检测物体必须具有铁磁性。此外，中子射线照相法、激光全息 照相法、超声全息照相法、红外检测、微波检测等无损检测新技术也得到了发展 和应用。 1.1.5无损检测工艺流程 如图2-1所示为常见的无损检测的工艺流程。 射线检测 超声检测 图1-1工艺流程图 第2章 燃料气缓冲罐的射线检测 2.1射线发射原理 如图2-1所示为X射线发射的原理图 钨极加热电源（ 钨极加 热电源 （几十一一几百）千伏 图2-1 X射线发射的原理图 X射线管是具有阴极和阳极的真空管，阴极用钨丝制成，通电后可发射热电子, 阳极（就称靶极）用高熔点金属制成（一般用钨，用于晶体结构分析的 X射线管 还可用铁、铜、镍等材料）。用几万伏至几十万伏的高压加速电子，电子束轰击靶 极，X射线从靶极发出。 2.2射线检测的准备 在射线检测之前，首先要了解被检工件的检测要求、验收标准，了解其结构 特点、材质、制造工艺过程，结合实际条件选择合适的射线检测设备、附件，如 射线源、胶片、增感屏、象质计等，为制定必要的检测工艺、方法做好准备工作。 射线源的选择 主要考虑容器的结构、材质、几何尺寸及容器安装位置等因素，同时要考虑 射线照像的对比度和清晰度。在曝光时间许可的条件下，应尽可能采用较低的射 线能量。 对于钢铁合金,厚度为8mm的材料，最高的X射线管电压约为140KV;厚度为 20mm勺材料最高X射线管电压则为280KV 对于丫射线，不同的射线源就有不同的适宜范围。如同样是高灵敏度技术， 60Co钻范围50?150mm 192lr铱则为18?80mm 胶片的选择 a胶片组成：胶片主要由基片、感光乳胶层（感光药膜）、结合层（底膜）和 保护层（保护膜）组成。 基片：胶片的基体，由乙酸纤维组成，主要保证胶片的强度韧性，适于冲洗。 厚度约0.25?0.30mm占胶片的70%左右。 感光乳剂层：其主要成分是溴化银微粒和明胶，两者组成悬浮体，两面各约 厚10?20卩m 原理是溴化银接受不同强度射线照射后析出多少不同的银，经过 潜影、显影、定影处理在胶片上将显示出黑度不同的影象。 结合层：由明胶、水、有机溶剂和酸等组成，可使感光乳胶层和基片粘结在 一起，防止乳剂层在冲洗时从基片上脱落。 保护层：由透明的胶质或高分子化合物组成，厚约 1?2卩m涂在乳剂层防止 污染和膜损。 b底片的黑度：照射到底片上的光强度 Lo与透过底片后的光强度L之比的常 用对数定义为底片的黑度。 c底片的保存：检测前的 底片应保存在低温、低湿度的环境中，室温在 10? 15C，相对湿度在55%?65%为宜。并且避免与有害、腐蚀性气体（如煤气、乙 炔气、氨气和硫化氢气体等）接触，避免胶片的人为缺陷产生，如变形、折伤、 划损、污染等。 检测后的底片及评定结果应有测评报告，保存期五年以上，随时待查。 d照相标准：根据JB4730-94《压力容器无损检测标准》射线透照的质量等 级分三个级别，即A级（普通级）、AB级（较高级）、B级（高级）。 压力容器AB类射线检测一般不低于AB级。 增感屏的选择 定义：是用来增强射线对底片感光作用的工具，它可以加快感光时间，减少 透照时间，以达到提高工作效率，提高影像质量的目的。 常见的增感屏有金属增感屏、荧光增感屏和金属荧光增感屏三类。其中金属 荧光屏