专用可测性设计技术.docVIP

专用可测性设计技术 引言 随着微电子技术的迅速发展、芯片集成度的不断提高以及电路板复杂性的 不断增加，传统的测试模型和测试方法己经不能满足当前的测试要求，测试费用 急剧增加。 本文从可测性设计与VLSI测试，VLSI设计2间的关系出发，将与可测性 设计相关的VLSI测试方法学、设计方法学的内容有机地融合在一起，文屮简要 介绍了 VLSI可测性设计的理论基础和技术种类，可测性设计的现状，发展趋势, 可测试性设计的内涵、意义和分类，并且探讨了可测性设计的实现方法。 关键词：可测性设计，自动测试牛产，扫描技术，边界扫描技术，嵌入式自测试。 可测性设计技术概述 2.1可测性的起源于发展过程 20世纪70年代，美军在装备维护过程屮发现，随着系统的复杂度不断提 高，经典的测试方法已不能适应要求，甚至出现测试成本与研制成本倒挂的局面。 20世纪80年代屮，美国军方相继实施了综合诊断研究计划。并颁布《系统和装 备的可测性大纲》，大纲将可测性作为与可靠性及维修等同的设计要求，并规定 了可测性分析，设计及验证的要求及实施方法。该标准的颁布标志这可测性作为 一门独立学科的确立。 尽管对测性问题最早是从装备维护的角度提出，但随着集成电路（TC）技 术的发展，满足TC测试的需求成为推动可测性技术发展的主要动力。从发展的 趋势上看，半导体芯片技术发展所带来的芯片复杂性的增长远远超过了相应测试 技术的进步。 随