光耦隔离驱动设计及计算.pdfVIP

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案例名称 光耦隔离驱动电路设计及计算 作者姓名 作者部门 写作日期 联系电话 关键词: 光耦 隔离驱动 传输比(CTR ) If Ic 【问题描述】: 【问题描述】: 监控类产品 经常要用到光耦隔离电路,例如 CAN、485 ,232 等通信电路,或者是信号输入输出 隔离电路等。我们在设计中要根据光耦的几个主要参数,仔细计算光耦原副边的电路参数。否则可能导致 电路功能异常。下面就某个市场问题展开分析。 山东基站的IPLU0006 出现如下问题,将IPLU0006 的串口 6 (485 通道)与智能设备 IPLU1501 相连, 前置机中显示 IPLU1501 往往通讯正常一段几分钟之后,即通讯异常。而将设备断电重启后,通讯正常一 段时间后设备又会出现通讯异常,如此反复。 【问题分析】 【问题分析】 对现场寄回来的样机进行分析,发现是由于电路设计是裕量不足引起。 具体分析如下: ①下图为 RS485 电路中前端的光耦隔离部分,其中红色选中部分为收发控制电路部分。CPU 发出的控 制信号经过缓冲驱动后经光藕隔离,控制通信芯片的收发控制端。这里原边上拉电阻为 2k ,副边上拉电 阻为 4.7k 。 当RTS2 输出为低电平时(0.2V )时,光耦饱和导通。ADM483 的收发控制段被拉低,收发控制端一 直箝位在低电平而保持为接收状态。当 RTS2 输出为高电平时(3.3V )时,光耦断开,ADM483 的收发控 制段被拉高而保持为发送状态。 由于485 为总线制,总线上可能有多个智能设备,所以对于同一时刻,总线上只能有一台设备处于发 送状态,而其他的设备都处于接收状态。对于 485 电路缺省状态,应该为接收状态,避免从机初始化过程 或故障时,影响总线的正常功能。 通过示波器对故障样机的各个波形进行测量,首先发现只有总线 AB 端只有主设备的数据发出,而从 设备没有响应。检测收发控制端口的波形时发现,当其需要低电平将电路嵌位在接收状态时。该电压较高 接近 2V 。这会导致主设备一直处于发送状态,整个总线都会出现通讯异常。说明光耦并没有工作在预想 的饱和状态下,而是工作在放大状态。 设备断电一段时候后重启能够正常工作一段时间,是因为光耦的传输比受温度的影响比较大。当设备 第 1 页 共 5 页 刚刚启动时,系统温度还不是特别高,所以传输比 CTR 相对较大。而工作一段时间后,温度上来后,传 输比 CTR 下降(经过计算此时的光耦传输比不到 60% ),光耦没法工作在饱和状态,副边电压升高,电路 工作不正常。 原有的电路计算如下: Vce=0.2V, Ic=(5-0.2)/4.7K=1.021mA, If=(3.3-1.2)/2K=1.05mA If 是否满足要求: Ifx=Ic/CTRmin=1.021mA/100%=1.021mA IfIfx 按照公司的降额规范,要审查集电极电压 Vce 和集电极的平均电流 Icav 应该满足 75 %的降额要求。 结论:Pass 注: CTRmin=100% 与物料品质部的同事沟通后,才知道光耦传输比虽然宣称范围是100%-300%,但其是在温度为25度, If为5mA时的结果。当温度升高,或是If为1mA时,其传输比会下降很多。其测量的结果如下。 对于本次失效的PS2701,高低温下不同IF 下的CTR 测量情况如下: 正常品: 失效样品: 该光耦的datesheet中有如下资料: 由上图可以得出 ①原边电流If与传输比CTR系数之间的关系如下 If 电流 传输比 CTR 系数 1mA 0.57 2mA 0.77 3mA 0.88 4mA 0.96 5mA 1 ②而光耦会工作在(-10~60摄氏度)下,由Ta-CTR关系图可知,-10度时的CTR与25度下的CTR持平,60度 时的CTR时25度下CTR的0.9倍左右。但是物料品质部同事实测出的结果表明却表明,CTR受温度的影响远不在此。 58度时的CTR只是25度下CTR的0.7倍左右。可见CTR受温度的影响非常大。 结论 公

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