(完整版)材料分析方法试卷a.pdfVIP

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贵州大学 2009-2010 学年第二学期考试试卷 A 材料分析方法 一、 名词解释 (共12 分, 每小题 3 分) 相干散射、激发限、系统消光、结构因子、球差、景深、焦长、衍射衬度、暗场像、二 次电子、化学位移 1. 荧光辐射 2. 倒易矢量 3. 结构因子 4. 明场像 二、 填空题 (共 27 分, 每空 1 分 ) 1.用于衍射分析的 X 射线的波长范围为 。 2 .波长和频率是描述 X 射线 性的物理参量,能量和动量则是描述 X 射线 性的物理参量。 3. K 特征谱线是原子中 壳层的电子跃迁到 K 壳层产生的,它的强度约是 K 的 倍。 4. 已知 X 射线管是钴靶,应选择的滤波片材料是 。 5. 当波长为 λ的 X 射线照射到晶体上发生衍射, 相邻两个 (hkl )晶面的波程差是 , 相邻两个( HKL )晶面的波程差是 。 6. 面心立方结构晶体产生消光的晶面指数条件为 。 7. X 射线衍射仪测样时,测角仪的计数管支架转速与样品转速之比为 。 8. 粉末法的厄瓦尔德图解法解释中 , 衍射圆锥的顶点代表试样所在位置 , 轴代表 , 母线代表 。 1 / 3 9. 多晶体 X 射线衍射分析方法主要是 和 两种。 10. 电磁透镜的像差中,可以控制或消除的是 和 。 11. 透射电镜的成像衬度中,由样品不同部位的厚度和密度差别而形成的衬度称 为 ,由样品不同部位衍射效应不同而形成的衬度称为 。 12. 薄膜样品制备过程中的最终减薄方法有 和 。 13. 若扫描电镜的荧光屏尺寸 A =100mm,电子束在样品上的扫描振幅 A =0.01mm,则扫 C S 描电镜此时的放大倍数为 倍。 14. 扫描电镜的两种常用成像信号中,既反映表面形貌衬度又反映原子序数衬度的 是 。 15. 波谱仪是 , 能谱仪是 。 16. X 射线光电子能谱分析中,导电固体样品产生光电效应时的光电方程表达式为 。 17. 扫描隧道显微镜的成像信号为 ,而原子力显微镜是通过检测针尖—样 品间的 来成像的。 三、 问答题 (共 35 分 ) 1. (8 分) (1)推导布拉格方程; (2 )为什么说衍射方向反映了晶胞的形状和大小。 3 4 2 e

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