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第三章 计量控制图;3.1 统计学基础;3.1 统计学基础（续1）;3.1 统计学基础（续2）;3.2 频率分布;实际生产完成情况（单位：件）;整理后资料：;由整理资料中“频率”可以看出:;变量数列编制例:;整理后资料：;第三章计量控制图;频率分布研究作用：;3.3 集中度测量;加权算数平均数的计算例;加权算数平均数：;3.4 离散度的衡量;3.4 离散度的衡量（续）;3.4 离散度的衡量（续）;标志变异指标的种类计算法（续1）;标志变异指标的种类计算法（续2）;标志变异指标的种类计算法（续3）;3.5 抽样总体和抽样样本的概念;3.6 正态曲线;正态分布曲线;3.6 正态曲线（续1）;标准正态分布曲线;标准正态分布曲线随σ变化;3.6 正态曲线（续2）;3.6 正态曲线（续3）;3.6 正态曲线（续4）;3.6 正态曲线（续5）; 思考; 小结; 作业;3.7 什么是计量控制图;3.7 什么是计量控制图（续）;3.8 控制图控制状态评估;3.8 控制图控制状态评估（续1）;3.8 控制图控制状态评估（续2）;3.9 过程能力;3.9 过程能力(续);工序能力图解;工序能力指数测算;;例1解:;例2: 某种零件在甲道工序加工，设计尺寸为 通过随机抽样，经计算知，样本平均值 与公差中心重合，S=0.0067mm。求该工序的工序能力CP。该工序能否保证产品质量要求。;例2解:;2.当质量标准中心值M与数据分布中心μ不重合时，工序能力指数的计算;2.当质量标准中心值M与数据分布中心μ不重合时，工序能力指数的计算(续);例3： 某零件尺寸标准要求为 ，随机抽样后的样本特性值为： 计算工序能力指数 ;例4：;工序能力分析;T;1. M=μ的情况下不良品率p的计算; ;产品不合格率（P）工序能力指数（Cp）的关系;练习 加工某零件，测得S=0.0065mm,技术要求为 φ18.2 mm,若M与μ重合，求CP和P和Q;2. M ≠μ的情况下不良品率p的计算;例如：某零件技术要求为：; 思考; 小结; 作业;3.10 计程序控制（SPC）技术;3.10 统计程序控制 SPC）技术（续1）;3.10 统计程序控制 SPC）技术（续2）;3.10 统计程序控制 SPC）技术（续3）;3.10 统计程序控制 SPC）技术（续4）;3.10 统计程序控制 SPC）技术（续5）;例1;Subgroup;例1解（续1）：;例1解（续2）：;Subgroup;例1解（续3）：;例1解（续4）：;例1解（续5）：;例1解（续6）：;3.11 质量设计;3.11 质量设计（续1）;3.11 质量设计（续2）;3.11 质量设计（续3）;练习1：判断控制点是否正常？;练习2：判断控制点是否正常？;练习3：判断控制点是否正常？;练习4：判断控制点是否正常？;3.12 控制图的用途;用 图 ; 思考1; 思考2; 小结; 作业