纳米材料表面结构分析.docxVIP

纳米材料的粒度剖析 不单能够进行纳米颗粒大小的剖析 , 也能够对颗粒大小的散布进行剖析 , 粒度的剖析方法基本上可概括为以下几种方法。 传统的颗粒测量方法有筛分法、显微镜法、沉降法等。 近年来发展的方法有激光衍射法、激光散射法、光子 相干光谱法、电子显微镜图像剖析法、鉴于布朗运动 的粒度测量法和质谱法等 纳米材料的容貌剖析 容貌剖析主要内容是 , 剖析材料的几何容貌、材料的颗粒度、颗粒的散布以及容貌微区的成分和物相构造等方 纳米材料常用的容貌剖析方法主要有扫描电子 显微镜 (SEM ) 、透射电子显微镜 (TEM ) 、扫描隧道显 微镜 (STM ) 、原子力显微镜 (A FM ) 法 成分剖析 确定纳米材料的元素组成 , 测定纳米材料中杂质的种类和浓度 , 纳米材料的体相元素组成及其杂质成分的剖析 方法包括原子吸收、原子发射、 ICP 质谱以及 X 射线 荧光与衍射剖析方法 纳米材料的构造剖析 包括高分辨透射电镜 (HRTEM ) 、扫描探针显微镜 (SPM ) 、扫描隧道显微镜 (STM ) 、原子力显微镜 (A FM ) 、场离子显微镜(F IM ) 、 X 射线衍射仪 (XRD) 、扩展 X 射线吸收精 细构造测定仪 (EXA FS) 、穆斯堡尔谱仪 (M S) 、拉曼 散射仪 (RS) 等等。 纳米材料表面与界面剖析 有: X 射线光电子能谱 (XPS) 、俄歇电子能谱 (A ES) 、静态二次离子质谱 (S IM S) 和离子散射谱 ( ISS) 5. 1 XPS 的剖析方法 表面元素定性剖析 ( 2) 表面元素的半定量剖析 ( 3) 表面元素的化学价态剖析 俄歇电子能谱仪还具有很强的化学价 态剖析能力 , 不单能够进行元素化学成分剖析 , 还可 以进行元素化学价态剖析