统计过程控制SPC培训讲义(PPT95页).pptx

统计过程控制 （SPC） 培训讲义;内容概要;一、什么是控制图;1、控制图的起源;1924年发明; 定义---控制图是对过程品质特性值进行测量、记录、评估，从而监视过程是否处于控制状态的一种用统计方法所设计出來的图表。 图上有中心线、上控制限和下控制限，并有按时间顺序抽取的样本统计,所得数值的描绘点。;二、控制图常用术语;控制图常用术语 统计数据及其分类 总体与样本 不良数与缺点数 设计规格与控制界限 数据的集中趋势与数据的离散程序;统计数据的分类 统计数据中有些可以测量出来，有些可以数出来，有些由两个数相除得到，以此分为两大类： 计量数据：可以连续取值的，可以用测量工具具体测量出数值的这类数据，如长度、容积、重量、化学成分、温度、职工工资等等。 计数数据：不能连续取值的，或者说即使用测量工具也得不到小数点以下数据的，如合格数量、缺点数、不良数、成功或失败次数等等。;总体与样本的关系 总体： （批量数），指在统计分析中研究对象的全体，有时也叫‘母体’。常用符号N表示。 样本：（样品 ），它是从总体中随机抽取出来并且要对它进行详细研究分析的一部分个体，也叫‘子样’。常用符号 n表示。 抽样：就是从总体中抽取样品组成样本的过程。;不良数与缺点数的区别 不良数：（不良品），在生产过程中不符合要求的产品，也即是含有质量缺陷的产品数量。 缺点数：（缺陷数），任何不满足特定要求条件的出现数量。 不良率：产品所含不良品数量除以产品总数再乘以100。 单位缺点：（百件缺点数），每百件产品中所含缺点的数量，即缺点总数除以产品总数再100。 一个不良品中至少有一个缺点，或者说含有一个缺点以上的产品为不良品，一个不良品中也可能含有多个缺陷。;设计规格与控制界限 设计规格：规格上限（USL），目标值（SL），规格下限（LSL）之间的关系。 双边规格，不对称规格，单边规格（上，下）定义。 控制界限：控制上限（UCL），控制中心（CL），控制下限（LCL）之间的关系。 控制界限是基于制程的数据而不是制造的规格。 如果过程???控的话，计算的控制界限要比设计规格严。 如果过程受控，但产品仍然不合格，则说明现有的生产工艺生产不出符合条件的产品。;数据的特性 零件尺寸30±0.5 对A、B两人连续抽取5个零件测量： A：30.04 30.14 29.90 29.86 30.18 B：30.40 30.38 30.44 30.42 30.36 那个人加工产品质量比较好呢？？;数据的集中趋势与离散程度 统计方法中常用的统计特征数可分两类： 1、数据的集中趋势，如平均数，中位数等。 2、数据的散布或离散程度，如极差，标准差等。 样本平均数 样本中位数 样本全距（极差） 样本变异数（方差） 样本标准偏差;a.样本平均数 表示数据集中位置，常用符号 表示，其计算公司为： 式中： ——样本的算术平均值 N ——样本数 例如，有统计数据x1,x2,x3.x4,x5为2,3,4,5,6五个数据，则其平均数据为： 2+3+4+5+6 X = ————— =4 5 ;b. 样本中位数 把收集到的统计数据按大小顺序重新排列，排在正中间的那个数就叫作中位数，用符号 表示；当n为奇数时正中间的数只有一个，当n为偶数时，正中位置有两个数，此时，中位数为正中间两个数的算术平均值。 例如： 1）在1.1， 1.2， 1.3 ， 1.4，1.5五个样本数中的中间值 中位数 =1.3 2)有1.0，1.2，1.4，1.1四个样本数时,则是中间数值的平均值 中位数 =——— =1.15 ;c.样本全距（极差） 极差是一组数据中最大值与最小值之差，常用符号R表示。它是表示数据分散程度中计算最简单的一种。其计算公式为： R=Xmax – Xmin 式中 Xmax 一组数据中的最大值， Xmin 一组数据中的最小值 例如：有3，6，7，8，10五个数据组成一组，则极差R=10-3=7;d.样本变异数（方差） 样本变异数是统计数据与样本平均值之间偏差的平方和除以（n-1）得到，是衡量统计数据分散程度的一种特征数，计算公式如下：