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资料分析总结计划方法计划 资料分析总结计划方法计划 PAGE / NUMPAGES 资料分析总结计划方法计划 一、 1、数值孔径（ NA）：是物镜前透镜与被检物体之间介质的折射率（ n）和半孔径角（α）的正弦之乘 积，即 NA= nsin α。 2、分辨率 ： 样品上相应的两个物点间距离 ?r ，定义为透镜能分辨的最小距离，也就是透镜的分辨 本事，即分辨率。 3、放大率 M: 物镜放大率 和目镜放大率 的乘积 ，即显微镜的总的放大率。 4、有效放大率 : 显微镜放大倍率的极限即有效放大倍率。 二、光学显微镜的像差分哪几种，怎样除去球差？ 1) 球差； 2 ）色像差； 3 ）色域曲折 除去球差的举措： 可采纳组合透镜作为物镜进行改正，别的还能够在使用显微镜时适合调理孔径 光阑，控制入射光束的粗细，让一束细光经过透镜的中心部位，进而把球像差减小到最低限度。 三、 什么是阿贝成像原理？请用作图的方式表示之。 定义：平行光束遇到拥有周期性特色物体的散射作用形成衍射谱， 各级衍射波经过干预从头在像平面 上形成反应物体特色的像。 四、 物像与物体的相像性是由什么因素决定的？ 直射光和衍射光，物像是由直射光和衍射光相互干预形成的，不让衍射光经过就不可以成像，参加成像 的衍射斑点越多，物像与物体的相像性越好。 1. 只是反应样品表面容貌信息的物理信号是（ B） A 背散射电子 ; B 二次电子 ; C 汲取电子 ; D 透射电子 ; 2. 在扫描电镜中，以下二次电子像衬度最亮的地区是（ B ） A 和电子束垂直的表面 ; B 和电子束成 30°的表面 ; C 和电子束成 45°的表面汲取电子 ; D 和电子束成 60°的表面 ; 3. 能够探测表面 1nm层厚的样品信息的物理信号是（ D ） A 背散射电子 ; B 汲取电子 ; C 特色 X射线; D; 俄歇电子 二、判断题： 1、扫描电镜的物镜与透射电镜的物镜是一致的。（ √ ） 2、扫描电镜的分辨率主要取决于物理信号而不是衍射效应和球差。（ √ ） 3、扫描电镜的衬度分容貌衬度和成分衬度两种。（√ ） 4、扫描电镜拥有大的景深，因此它能够用来进行断口容貌的剖析察看。（√ ） 三、填空题：扫描电子显微镜 1、 . 电子束与固体样品相互作用能够产生 二次电子 、 背散射电子 、 俄歇电子 、 透射电子 、 特色 X 射线 、 连续 X 射线 等物理信号。 2、. 扫描电镜的放大倍数是 显像管中电子束在荧屏上 的扫描宽带与 电子光学系统中电子束在样品上 的 扫描宽度的比值。在衬度像上，颗粒、突出是 亮 衬度，而裂纹、凹坑则是 暗 衬度。 3、 . 分辨率最高的物理信号是 俄歇电子 为 nm ，分辨率最低的物理信号是 连续 X 射线 为 5000 nm 。 4、 扫描电镜的分辨率往常是指 二次电子 的分辨率。 5、 扫描电镜常用的信号是 二次电子 和 背散射电子 。 6、 电子束与轻元素的作用体积呈 梨 形，与重元素的作用体积呈 半球 形。 TEM：透射电子显微镜 SEM：扫描电子显微镜 STM：扫描地道显微镜 四、 1．用一句话归纳扫描电镜的工作原理。 光栅扫描，逐点成像 2、 扫描电镜的电子光学系统包含哪几部分？ 电子枪，电磁透镜，光阑，扫描系统和样品室 3、简述扫描电镜的基本构造及成像特色。 扫描电镜主要由电子光学系统、 信号采集及图像显示和记录系统、 真空系统和电源系统三部分构成。 成 像特色 : 1) 立体感 ； 2 ）放大倍数连续可调 一、填空题： 1. 衍射发生的充要条件是： 晶体强度（ ） 加 知足布拉格方程 。 2. 倒易矢量的方向是对应正空间晶面的 法线方向 ，倒易矢量的长度等于对应 晶面间距的 倒数 。 3. 只需倒易阵点落在厄瓦尔德球面上，就表示该 晶面组 {hkl} 知足 布拉格方程 条件，能发生 衍射 。 4. 物相剖析的三种手段分别是 X 射线 衍射、 电子 衍射和 中子 衍射三种， 此中常用的两种是 X 射线 衍射和 高能电子 衍射，它们对应的剖析仪器分别是 X 射线 衍射仪 和 电子衍射仪 。 5. 产生 X 射线衍射的散射基元时 内层电子 ，电子衍射的散射基元是 原子核。 6. 有一倒易矢量 g*=2a*+2b*+c*, 与它对应的正空间晶面是（ 221 ） 。二、综合题： 简述厄瓦尔德图解晶面发生衍射的详细作图步骤。 答： ①关于单晶体，先画出倒易点阵确立原点地点 O。 ②以倒易点阵原点为起点，沿 x 射线入射反方向行进 1/ λ 距离，找到厄瓦尔德球的球心 O1( 晶体 的地点） ③以 1/ λ 为半径作球，获得厄瓦尔德球。所有落在厄瓦尔德球的倒易点对应的晶面组均可参加衍 射。 什么是系统消光？ 答：因为原子在晶胞