射线探伤方法与应用及工艺的编制与优化(XXXX年特种设备高级培训教材).pptx

RT探伤方法与应用 图2-1现有某个储罐，如图。材质为16MnR，规格为:φ2000mm×12mm, 要求对壳体A、B类焊接接头和B8 (Φ530×14 )接管对接缝透照 。 (涉及到透照方式选择、透照次数计算、射线能量选择、焦距选择、曝光量选择、透照时机确定、散射线控制等射线检测工艺参数确定，这些即射线工艺，其中最重要的是透照方式选择，为射线检测工艺的灵魂)RT探伤方法与应用 1透照方式的选择 1.1 透照方式的选择原则：依据工件的结构和技术条件的要求，优先选用单壁透照方法；在单壁透照方法不能实施时才允许采用双壁透照方法；双壁双影法一般只用于直径在100mm以下的小径管的环焊缝透照。 RT探伤方法与应用1.2透照方式的分类：直缝透照：单壁、双壁；环缝单壁透照：外透、中心透照、偏心内透（FR，F R ）；环缝双壁透照：双壁单影（倾斜、垂直）、双壁双影（倾斜、垂直）。RT探伤方法与应用 2一次透照长度的计算（最少透照次数计算） 2.1几个概念：一次透照长度——焊缝射线照相一次透照的有效检验长度(一般指源侧的长度)，L3表示。受两个因素的限制，一个是射线的有效照射场的范围，一次透照长度不可能大于有效照射场的尺寸；另一个是透照厚度比（标准规定）限制了一次透照长度的大小。一次透照长度对照相质量和工作效率同时产生影响。（双壁双影的L3一般不计算，一次透照有效检出范围由其他因素决定，如宽容度。）RT探伤方法与应用搭接长度——一张底片与相邻底片重叠部分的长度,ΔL表示。有效评定长度——一次透照检验长度在底片上的投影长度，Leff表示。实际透照时，如果搭接标记放在射源侧，则底片上搭接标记之间长度即为有效评定长度。如搭接标记放在胶片侧，则底片上搭接标记以外还附加△L长度才是有效评定范围（如纵缝双壁透照时）(上述说法不包括环缝偏心FR)。三者关系：Leff=L3+△L。 △L= 2 × L2 (L3/2)/L1= L2 L3/L1RT探伤方法与应用 2.2直缝透照L3的计算：L3=2L1tanθ，其中θ=cos-1(1/K)， L1—射源到工件表面的距离。 θ—横向裂纹检出角。 K—透照厚度比，T’/T。RT探伤方法与应用 2.2环缝单壁外透L3的计算（最少曝光次数）：L3=πDO/N ，其中 N=180/α，最少曝光次数； α=θ-η， η= sin-1 [DOsinθ/（DO+2L1）]。 θ= cos-1{[1+（K2-1）T/DO]/K}(据ΔOAC),(偏心内透FR与同), α——与AB/2对应的圆心角； θ——有效最大失真角； η——有效半辐射角； K——透照厚度比； T——工件厚度； Do——容器外径。 源在外单壁透照对接环形焊接接头，透照厚度比K=1.1时的透照次数 .Di=1800,T=30,K=1.1,F=600。(mm)T/Do=30/1860=0.016;Do/f=Do/(600-30)=3.26;N=19次。RT探伤方法与应用环缝外透法中的几何参数变化特点： ①当透照距离L1减小时，若透照长度L3不变，则K值、θ角增大；若K值、θ角不变，则一次透照长度L3缩短，最少透照次数增加。②当透照距离L1增大时，情况相反，当L1趋向无穷大时，透照弧长所对应的圆心角即与壁厚度无关(?)，其极限等于影像最大失真角θ的2倍(而θ与T总是有关的)。若当Do T时，θ≈cos-1K-1 ；当K=1.1时，θ=24.62°，则环缝至少应摄片8张，用数式表示即： N=180/α= 180/ θ=180/24.62=7.31。 RT探伤方法与应用2.3环缝中心透照L3的计算（最少曝光次数） ： 这种透照布置透 照厚度K=1，横 向裂纹检出角θ ≈0o,一次透照长度 L3=整条环缝长度。 最少曝光次数为1次。RT探伤方法与应用2.4环缝偏心内透照（FR）L3的计算（最少曝光次数） ： L3=πDi/N ，其中 N=180/α，最少曝光次数； α= η - θ ， η= sin-1 [Disinθ/（DO-2F）]。 θ= cos-1{[1 -（ K2-1）T/D i]/K}， α——与AB/2对应的圆心角； θ——有效最大失真角； η——有效半辐射角； K——透照厚度比； T——工件厚度； Di——容器内径; Do——容器外径。RT探伤方法与应用 环缝偏心内透照（FR）几何参数变化特点： ① 当透照焦距减小时，若透照长度L3不变，则K值、θ角增大；若K值、θ角不变，则一次透照长度L3缩短，最少曝光次数增加。 ②当透照焦距增大时，情况相反，当焦距趋向圆心时，透照弧长所对应的圆心角即与壁厚度无关，其极限透照厚度比K=1，横向裂纹检出角θ≈0o,一次透照长度L3=整条环缝长度。最少曝光次数为1次。RT探伤方法与应用2.5环缝偏心内透照（FR）L