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可靠性试验管理程序 深圳市恒宝通光电子有限公司作业类指导书牢靠性试验规定作业指导书〔试行版〕HPT3-W-I-531.目的：验证产品的光电性能和机械性能的牢靠性，验证产品的设计是否满足顾客的需求。2.适用范围：本程序适用于恒宝通无铅化〔符合ROHS标准〕产品为SM 1x9光模块、SFF、GBIC、SFP和BiDi光模块，以及新开发的光模块等产品的牢靠性测试。3.参考文件： Bellcore TA-NWT 000983Bellcore TR-NWT 000468MIL-STD-8834.牢靠性试验监控程序如有批量生产〔每月1000个以上〕，那么下述产品要供应规定的样品数量做牢靠性试验作为监控产品的牢靠性质量。4.11.25Gb/s、2.5Gb/s SM 1x9光模块；1.25Gb/s、2.5Gb/s SFF；1.25Gb/s、2.5Gb/s SFPDDM光模块等4.1.2 每半年的牢靠性试验在样品进展长期的牢靠性试验前，要求对样品进展预处理试验。关于长期4.2GBIC、SFP和各类BIDI等4.2.2 每年的牢靠性试验在样品进展长期的牢靠性试验前，除了进展机械震惊和振动试验外,要求对样品进展预处理试验。关于长期的牢靠性试验监视方案工艺流程，请参4.3．工艺流程4.3.1每季度的牢靠性试验 4.3.2每半年/年的牢靠性试验4.3.3每季度/半年牢靠性试验在光、电测试后不合格品处理流程NO4.3.4每年牢靠性试验在光、电测试后不合格品处理流程 NONO 只是参数值的问题4.4不合格定义不合格就是不符合监控测试局部的标准说明书。不合格类型被更进一步分解为两组，即灾难性和参数失败。4.4.1 灾难性就是〔1〕一个模块不工作。〔2〕一个模块测量出来的参数在测试软件所规定的范围以外。〔3〕EEPROM测试失败。〔4〕外壳或者屏蔽罩裂开、漏电、外表破损。〔5〕一个模块所测量出的参数改变范围超出标准范围〔包括测试仪器所允许最大0.8dB的偏向〕LOP 3dB CSEN 3dB4.4.2参数失败就是：〔1〕上升沿时间，下降沿时间，占空比，PWD，Threshold,消光比，老化前后偏向；〔2〕功率和灵敏度改变在1.5dB与3dB之间，包括测试仪器的RR所允许的最大偏向0.8dB。4.4.3 Infant stage就是在下面所列项或之前的测试点：〔1〕到达20次温度循环之前〔2〕168小时的HTOL和高温高湿〔3〕10次基于抗湿的循环〔4〕100次温度循环〔5〕机械震惊和振动4.4.4来自其他测试点的失败被认为是长期失败。5．记录：《模块牢靠性测试记录》 HPT4-53-01