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半导体温度计设计与制作 半导体温度计设计与制作 半导体温度计设计与制作 实验报告：半导体温度计的设计与制作 张贺 P一、实验题目： 半导体温度计的设计与制作 二、实验目的： 要求测试温度在 20-70 ℃的范围内，选用合适的热敏电阻和非平衡电桥 线路来设计一台半导体温度计。 要求作为温度计用的微安表的全部量程均能有效 的利用，即当温度为 20℃时，微安表指示为零；而温度为 70℃时，微安表指示 为满刻度。要求长时间的测量时，微安表的读数应稳定不变。 三、实验原理 : 半导体温度计就是利用半导体的电阻值随温度变化而发生急剧变化的特 性而制作的，以半导体热敏电阻为传感器， 通过测量其电阻值来确定温度的仪器。 这种测量方法称为非电量的电测法， 它可以将各种非电量转变成电学量， 然后用 电学仪器来进行测量。 半导体温度计测温电路原理： IG 0时， R1 R3 R2 RT 1） 当电桥某一臂改变时平衡将受到破坏， G中有读数，可据此求出 RT , 即 G的 读数大小直接反映热敏电阻阻值，从而反映温度。取 R1 R2。 I G 0 时，要求 RT 处于下限，即 R3 RT 1 。 由于 IT IG，VCD IT R3 RT 。 1 R2 RT 2 I G R1 R2 R3 RT 2 VCD 1 2 R3RT 2 RG R R R1 R2 R3 RT2 （