X射线荧光光谱仪的验收和校准 .docxVIP

PAGE PAGE 1 X射线荧光光谱仪的验收和校准 一、仪器的验收通过仪器的验收，对仪器的质量、规格及技术特征可以举行深化的了解，并通过仪器的性能指标可以对仪器作出评判。验收的好与坏，挺直关系到以后在用法过程中的质量，因此在验收过程中必需严格根据要求举行验收。下面主要介绍仪器的验收过程，以及验收中应当注重的事项。首先，在安装调试之前要对仪器举行开箱验收，必需是厂家及用法部门同时在场才干开箱。开箱后根据双方签订的选购合同举行验收，检查仪器状态，核对仪器型号及合同中的相关要求，并根据合同清单或装箱单对仪器及附件举行清点。当清点过程中与合同有出入的时候，应准时与厂家商议解决。地线的要求很高，普通要求地线小于1Ω ，检测地线的好坏可以通过稳压电源的地线电压来举行测试，普通来说假如稳压电源地线电压小于5V就能用，3V左右属于正常。仪器运行稳定后，根据合同的要求需对验收指标举行测试，验收指标包括稳定性、精密度、计数线性、探测器辨别率、仪器的计数线性等。测试完后认真核对测试结果，按照双方的协议或厂家的指标要求对仪器作出评判。仪器验收指标合格接下来支配应用工程师对仪器的应用举行培训，培训完后工程师会提供一份验收报告，双方签写了验收报告后，囫囵安装、调试及验收工作就算完成。二、仪器的校准因为仪器硬件和周围环境的变幻，会引起仪器产生漂移。为了保证分析办法能够长久用法，避开因为仪器的漂移使分析结果产生偏离，需要定期对仪器举行校准，即将仪器任何测试工作状态校准到制定分析办法时的状态。常用校准办法有以下2种。(1) 单点校正法 制定分析办法后，同时测定用于校准仪器的监控样品，系统会保存监控样品相应元素的强度，当在测定实际样品时，先测定此监控样，这时测得的监控样的强度将和制作分析办法时测得的强度产生一个校正系数，测得实际样品的强度乘上这个校正系数，即可对实际样品的元素含量举行校正，达到校准仪器漂移的目的。(2) 两点校正法 两点校正法是把分析办法中校准曲线两端的试样作为监控样的一种办法。测试实际样品前，先测定两个校准样品，测得的强度产生两个校正系数，最后测得的实际样品元素含量通过这两个校正系数举行校准。这种办法也用法多个其它监控样品来举行校准。对于监控样品必需包括全部要分析的元素和对分析元素产生干扰的元素，性质要保持稳定，并且各元素的含量要足够高，不一定要和制作分析办法的标准样品属于同一类型的样品。上一篇：下一篇：