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双极型三极管及其在生活中的应用
一、双极型三极管的介绍
类型与结构
双极型三极管〔Bipolar Junction Transistor, BJT〕称为半导体三极管、晶体半导体等,是一种重要的三端子电子器件。它是由贝尔试验室〔Bell Laboratory〕的一个争辩团队在1947年创造的。虽然如今MOSFET已经成为应用最广泛的电子器件,但是BJT仍旧在汽车电子仪器、无线系统频射电路等领域具有肯定的优越性。
〔双极型晶体管外形图〕
〔双极型晶体管外形图〕
双极型三极管〔BJT〕是一种电流把握器件。它由两个背靠背PN结构成,是具有电流放大作用的晶体三极管,。它有三个电极,每个电极伸出一个引脚,由电子和空穴同时参与导电。BJT常见的晶体管外形如右图所示。
PNP管〔3Axx〕双极型晶体管锗管硅管NPN管〔3Bxx〕PNP管〔3Cxx〕NPN管〔3Dxx〕〔双极型三极管分类图〕双极型三极管按材料可分为锗半导体三极管和硅半导体三极管,在这两种三极管中又可按结构可分为:NPN
PNP管〔3Axx〕
双极型晶体管
锗管
硅管
NPN管〔3Bxx〕
PNP管〔3Cxx〕
NPN管〔3Dxx〕
〔双极型三极管分类图〕
〔NPN型管的结构模型图〕〔A为NPN晶体管、B为PNP晶体管〕在一个硅片或锗片上生成三个半导体区域:一个P区夹在两个N区中间的称为NPN型管;一个N区夹在两个P
〔NPN型管的结构模型图〕
〔A为NPN晶体管、B为PNP晶体管〕
三个杂质半导体区域分别为:基区、放射区、集电区。它们的特点是:基区很薄,空穴浓度较小;放射区与基区的接触面较小,高掺杂;集电区与基区的接触面较大。从三个区域中分别引出三个电极:基极〔B〕、放射极〔E〕、集电极〔C〕。三个杂志半导体区域之间两两形成了PN结。其中放射区和基区间形成放射结,集电区和基区间形成集电结。上图所示是NPN型管的结构模型图。
工作原理
BJT的工作模式有三:共射极放大、共基极放大、共集极放大。其中最常见的是共放射极工作模式。
〔a为放大状态、b为倒置状态〕当BJT中两个PN结偏置条件不同时,BJT将呈现不同的工作状态【1】
〔a为放大状态、b为倒置状态〕
〔2〕截止区:放射结和集电结均为反向偏置。其实只要放射结反偏或零偏置,三极管就已处于截止状态.在数字电路中,这个条件还要弱一些,只要加在放射结上的电压小于导通电压,三极管就可以截止。〔3〕饱和区:放射结和集电结均为正向偏置。
〔BJT工作原理图〕〔4〕倒置态
〔BJT工作原理图〕
工作原理描述:当晶体管工作在有源放大区时,管内载流子运动如右图所示。由于放射结的外加正向电压,放射区的电子向基区集中,形成放射极电流IE。局部电子连续向集电结方向集中,另一局部电子与基区的空穴符合形成基区复合电流IBN。由于集电结的外加反向电压,从基区集中来的电子很快漂移过集电结并被集电区收集,形成集电极电流IC。 与此同时,基区自身的电子和集电区的空穴也在反偏电压作用下产生漂移运动,形成集电结反向饱和电流ICBO。
电学特性
电流增益
集电极电流IC和放射极电流IE之间的关系可以用系数来说明,定义:?
通常通过改善打算放射极注入效率〔?〕和基区传输因子〔αT〕的结构参数使电流参数得到优化。
其中,放射极注入效率〔?〕定义为:
〔NB是基区的掺杂浓度,NE是放射区的掺杂浓度;DPE是电子在放射区中的集中系数,DNB是少子在基区的集中系数;WB和WE分别基区和放射区的宽度〕
想要改善放射极注入效率,必需减小NB和NE的比值,因此放射区的掺杂浓度必需远大于基区。【3】
基区传输因子〔αT〕定义为:
其中,是基区的少子集中长度,DnB是少子在基区的集中系数。
BJT的共放射极电流增益定义为集电极电流和基极电流的比值 :
击穿电压
在BJT器件中,击穿分为两种:雪崩击穿和穿通击穿。当基区集电区的反偏电压到达某数值,器件内的最高电场到达临界击穿电场时,电流急剧增加,发生雪崩击穿。当基区-集电区的反向偏置电压提高后,基区集电区的耗尽层边缘延长至整个基区,基区电中性消逝,整个基区都是高电场的耗尽区。此时,放射区的电子可以直接漂移到集电区,从而输出很大的集电极电流,发生穿通击穿。【4】
器件的雪崩击穿电压BV定义为:
其中,?是半导体材料的介电常数,N是漂移区的掺杂浓度。EC为半导体材料的临界击穿电场。
二、双极型三极管在生活中的应用
1、基于BJT的温度传感器
1〕简介
基于BJT的CMOS温度传感器依据基极-放射极电压VBE的温度特性来测量溫度。由于BJT良好的温度特性,这种温度传感器可以到达很高的精度,到达了0.1°C,是目前精度最高的CMOS温度传感器。但是其普遍存在功耗过高、面积过大的问题,随着
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