TIA EIA 568B(中文版)分析和总结.pdfVIP

精心整理 目录 1绪论 2目的和范围 3标准参考 4定义、缩写词 4.1定义 4.2缩写词 5试验结构 5.1成分试验结构 5.2布线试验结构 6成分 6.1认可电缆 6.1.1水平电缆 6.1.2主干电缆 6.1.3混合电缆 6.2认可连接硬件 6.3线芯 7传输性能要求 7.1插入损耗 7.1.1电缆插入损耗 7.1.2连接硬件插入损耗 7.1.3布线插入损耗 7.2近端串扰（NEXT）损耗 7.2.1线对-线对的近端串扰（NEXT）损耗 7.2.2功率累计近端串扰（NEXT）损耗 7.3等电平远端串扰（ELFEXT）和远端串扰（FEXT）损耗 7.4回波损耗 7.4.1水平电缆回波损耗 7.4.2绞接导线电缆回波损耗 7.4.3连接硬件回波损耗 7.4.4工作区、设备和接插软线的回波损耗 7.4.5布线回波损耗 7.5传输延迟/延迟差异 7.5.1电缆传输延迟 7.5.2布线传输延迟 7.5.3电缆传播延迟差异 7.5.1布线传播延迟差异 7.6对称 7.6.1纵向变流损耗（LCL） 7.6.2纵向变流传输损耗 附录A布线测量方法（标准） A.1概述 A.2频率范围 附录B试验装置（标准） 精心整理 精心整理 B.1等级III现场试验装置精度要求 B.1.2测试性能要求，6类永久链路 B.1.3测试性能要求：6类信道试验结构 B1.4长度、传输延迟和延迟差异的精度要求。 B.2量化现场测试仪的程序 B2.1概述 B.3误差模式 B.4精度 附录C布线试验要求（标准） C.1概述 C.2试验设置和装置要求 附录D电缆和连接硬件对称测量方法（信息） D.1概述 D.2电缆对称测量 D.3连接硬件对称测量 D.4LCL校准和测量 D.4.1LCL校准 D.4.2LCL测量 附录E E.1概述 E.2试验设置和设备 E.2.1试验不平衡变压器性能 E.2.2阻抗匹配性接线头 E2.2.1试验固定装置共模电阻匹配 E2.2.2对称转换器接线头 E2.2.3电阻接线头 E.3模块式插座试验考虑 E.3.1试验插头结构 E3.2试验插头品质 E3.2.1试验非嵌入式插头NEXT损耗 E3.2.3对试验插头的另一种NEXT损耗测量方法 E3.2.4非嵌入式和同轴接线端试验结果的相关性 E3.2.5试验FEXT损耗 E3.2.6试验插头差模和差模加共模确认 E3.2.7试验插头延迟和端口扩展 E4NEXT损耗 E4.1NEXT损耗试验 E.5FEXT损耗 E5.1FEXT损耗试验 E.5.2FEXT损耗测量在试验室之间的重复性 E.6回波损耗 E.6.1回波损耗试验电线 E.6.2回波损耗试验室-试验室测量精度 附录F测试插头FEXT损耗测试方法（标准） F.1范围 F2.适用性 精心整理 精心整理 F.3一般试验插头和参考试验头的要求 F.4试验插头FEXT损耗试验方法，非嵌入式方法 F.4.1非嵌入参考FEXT插头结构 F.4.2组装非嵌入参考FEXT插头到PWB和试验电线的远端 F.4.3FEXT参考插头组装 F.4.4FEXT参考插头测量 F.4.5FEXT参考插座集合 F4.5.1FEXT参考插座端口扩展校正 F.4.6非嵌入参考插座FEXT集合测量 F4.7试验插头FEXT测量 F.5试验插头FEXT损耗试验方法同轴接线头方法 F.5.2插头试验结构 F.5.3试验插头FEXT试验 F.6同轴接线头参考测试头构造 F.7阻碍控制试验固定装置 F.7.2试验固定装置校准方法 F7.3双绞线回波损耗测量 附录G高温环境下的电缆安装（标准） G.1概述 G.2电缆温度的允许范围 G.3安装示例 附录H非嵌入参考NEXT损耗插座选择方法（标准） H.1范围 H.2测量取样计划 附录I试验插头接线头模式NEXT损耗参考验证（标准） I.1范围 I.2差模插座矢量 I.3试验插头差模和结合有差模的共模的一致性 I.4差模到带差模的共模的一致性计算 附录J模块式插头电线试验方法（标准） J.1概述 J.2网络分析仪试验结构 J.3模块式插头电线试验方法 J.46类模块式电线试验