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材料测试技术课后题答案 答：送样时必须注明以下信息： ①待分析项目和所要的图形格式； ②试样的来源、化学组成和物理特性等，尤其是化学组成，这些对于作出正确的结论是很有帮助的。 ③要确定样品中含量较少的物相时，可用物理或化学方法进行富集浓缩。 ④样品有择优取向时，必须说明。 ⑤尽量将XRD分析结果和其他分析方法结合起来，如TEM、偏光显微镜等。 1、光学显微镜用（可见光）做照明源，其最小分辨率为（200nm）；电子显微镜以（电子束 ）做照明源，其分辨率可达（0.1nm），通常人眼的分辨率是（0.2mm）。 2、电磁透镜的像差指的是（电磁透镜的像与物总有一定的偏差），电磁透镜的像差主要有（球差）、（色差）、（轴上像散）、（畸变）等。 3、解释名词：分辨本领、磁透镜、场深、焦深。 ①分辨本领：分辨本领是指成像系统或系统的一个部件的分辨能力，又称分辨率。即成像系统或系统元件能有差别地区分开相邻物件最小间距的能力。 ②磁透镜：旋转对称的磁场对电子束有聚焦成像作用，电子光学中用电子束聚焦成像的磁场是非匀强磁场，其等磁位面形状与静电透镜中的等电位面相似。把产生这种旋转对称磁场的线圈装置叫磁透镜。 ③场深：场深＝景深是指在不影响透镜成像分辨本领的前提下，物平面可沿透镜轴移动的距离。场深也是电镜的性能指标之一，场深越大越好，表示样品的不平度可以差一些。扫描电镜的场深很大，做失效分析是很有用，可直接观察断口试样的断裂形貌。 ④焦深：焦深是指在不影响成像分辨率的前提下，像平面可沿透镜轴移动的距离。焦深也是越大越好，便于照相。 1、画图说明电子与固体样品相互作用所能产生的物理信号并说明SEM和TEM分别用哪些信号成像？在SEM的成像信号中，哪一个信号的成像分辨率最高？ SEM以二次电子、背散射电子、吸收电子成像，其中二次电子是最主要的成像信号。 2、 TEM是高分辨率、高放大倍数的显微镜，它在哪三个方面是观察和分析材料的有效工具？ 答：①分辨率：表示TEM显示显微组织、结构细节的能力。分点分辨率和线分辨率。 ②放大倍数：指电子图像对与所观察试样区的线性放大率。 ③加速电压：加速电压高可观察较厚的试样。对材料研究工作选200KV加速电压的TEM更合适。 3、 TEM以（聚焦电子束）为照明源，使用对电子束透明的（薄膜试样，几十到几百nm）样品，以（透射电子）为成像信号。 说说TEM对样品的基本要求；对于无机非金属材料等一些非导电材料，制备TEM样品常用的两种方法及其特点分别是什么？ 答：（1）TEM对样品的基本要求： ①载样品的铜网直径是3mm，网孔约0.1mm，所以可观察样品的最大尺度不超过1mm。 ②样品要相当的薄，使电子束可以穿透。一般不超过几百个埃。 ③只能是固态样品，且样品不能含有水分和其它易挥发物以及酸碱等有害物质。 ④样品需有良好的化学稳定性及强度，在电子轰击下不分解、损坏或变化，也不能荷电。 ⑤样品要清洁，不能带进外来物，以保证图像的质量和真实性。 （2）制备TEM样品常用的两种方法及其特点： ①复型制样法：制样简单，只是对物体形貌的复制，不是真实样品，不能做微曲分析，只能看样品表面形貌分析。 ②离子双喷减薄法：虽然样品很薄，除进行样品表面形貌分析还可以通过电子衍射进行晶体结构分析。 2、电子衍射和X射线衍射均可做物相分析，请对比分析二者的异同点。 衍射分析方法 XRD TEM 源信号 X射线 电子束 技术基础 X-ray相长干涉 电子束相长干涉 样品 固体（晶态） 薄膜（晶态） 辐射深度 几十个微米 一微米以内 样品作用体积 0.1～0.5mm3 ≈1立方微米 衍射角 0°～180° 0°～3° 衍射方程描述 Bragg方程 Bragg方程 应用 物相分析、点阵常数测定等 微区晶体结构分析与物相鉴定等 消光规律 相同 相同 3、解释名词：像衬度、明场像、暗场像。 答：①像衬度：像衬度是图像上不同区域间明暗程度的差别。 ②明场像：用物镜光阑选用直射电子形成的像叫明场像。 ③暗场像：选用散射电子形成的像叫暗场像。 在明场像情况下，原子序数较高或样品较厚的区域在荧光屏上显示（较暗），反之则对应于（较亮）的区域。在暗场像情况下，与明场像（相反）。 1、SEM相对于TEM有哪些特点？ 答：①可观察Φ＝10～30mm的大块试样，制样方法简单。 ②场深大，适于粗糙表面和断口的分析观察，图相富立体感、真实感，易于识别和解释。 ③放大倍数变化范围大，便于低倍下的普查和高倍下的观察分析。 ④具有较高的分辨率，一般为3～6nm。 ⑤可通过电子学方法控制和改善图像质量。 ⑥可进行多功能分析。 ⑦可使用加热、冷却和拉伸等样品台进行动态试验，观察各种环境条件下的相变和形态变化等。 2、SEM对样品有何要求？ 答：①试样可以是块状或粉末颗粒，在真空中能保持稳定；