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尺寸测量系统分析minitab使用方法及解析讲解 2010年4月29日 品质部 随机选取样品10件。 每件产品拟定1个测试位置，每个位置随机测试3次，根据位置的编号分为1组，共60个数据进行分析。 分析各测量员的重复性以及再现性 求取合计量具变异 达到要求方可使用. 编号 检查项目 校验 Gage R R分析 量具 投影仪 SS-C-01 测产品尺寸 √ √ 测量员 马春秀 尺寸测量系统分析 √ 申凡 √ 测量系统事前准备事项 选取样件时，样件要尽量覆盖整个生产制程——样件的尺寸范围覆盖面尽可能的广（但不能超过规定的尺寸限度值）。原因详见“可区分类别类别数”； 测量之前需要针对要测量的样件规定测量方式、测量基准； 使用的量具需要精度较高，一般要求精度误差为产品尺寸公差范围的1/10或测量尺寸极差值的1/10。在这里我们选取两者较小的1/10，一般为测量尺寸极差的1/10，因为大部分情况下：测量尺寸范围公差范围； 测量时要遵循随机原则。 测量数据 测量员 马春秀 2010年1月27日 产品序号 第1次 第2次 第3次 1 13.950 13.958 13.946 2 13.955 13.956 13.950 3 13.938 13.940 13.942 4 13.944 13.950 13.948 5 14.000 14.005 14.008 6 13.932 13.936 13.934 7 13.948 13.952 13.946 8 13.964 13.959 13.961 9 13.956 13.958 13.949 10 13.980 13.982 13.985 测量员 申凡 2010年1月27日 产品序号 第1次 第2次 第3次 1 13.945 13.948 13.952 2 13.950 13.949 13.957 3 13.945 13.940 13.938 4 13.946 13.950 13.946 5 13.998 14.002 13.996 6 13.929 13.928 13.935 7 13.947 13.949 13.952 8 13.958 13.965 13.964 9 13.948 13.951 13.952 10 13.990 13.986 13.981 录入数据 如图所示：大体可分为3列，“部件号”列、“操作员”列、和“测量数据”列。其中“测量数据”列可以根据图纸要求测量的数据分为多列。 ①部件号为测量数据所对应的序号，此处为1-10循环排列； ②姓名为两人，也是与测量数据相对应。 ③数据部分是将上表中的所有数据按照顺序排为一列。 选择测量方法 如图所示，选取： ?“统计” ?“质量工具” ?“量具研究” ?“量具RR研究（交叉）” 在我司一般选取“交叉法”。 具体原因见下页“小注①” 小注① ： 选择交叉分析法的原因： 量具重复性和再现性研究确定观测到的过程变异中有多少是因测量系统变异 所致。使用 Minitab 可以执行交叉或嵌套量具 RR 研究。 ①当每个部件由每个操作员多次测量时，请使用量具 RR 研究（交叉）。 ②当每个部件只由一名操作员测量（如在破坏性试验 中）时，请使用量具 RR 研究（嵌套）。在破坏性试验中，测量特征在测量过程后与其在开始时不同。撞击试验即是破坏性试验的一个例子。 选择交叉或嵌套 如果需要使用破坏性试验 ，则必须能够假定一个批次中所有部件的相同程度高到足以声称其为相同的部件。如果无法做出此假定，则一个批次中部件之间的变异将掩盖测量住系统变异。 如果可以做出此假定，则为破坏性试验选择交叉还是嵌套量具 RR 研究取决于建立测量过程的方式。如果所有操作员都测量来自每个批次的部件，则使用量具 RR 研究（交叉）。如果每个批次只由一名操作员测量，则必须使用量具 RR 研究（嵌套）。实际上，只要操作员测量独特的部件，就属于嵌套设计。 过程变异 测量系统变异 实际产品变异 选择测量方法 如图所示，依次根据提示选择右侧框要求填入的内容。 分析方法，我们选择“方差分析”。 双击后自动填入右侧要求的空白处 选择方差分析法的原因如下页（小注②） 小注② ： 选择方差分析法的原因： Minitab 为量具 RR（交叉）提供了两种方法：X 和 R 法或方差分析法。X 和 R 法将整体变异分为三种类别：部件间变异、重复性和再现性。方差分析法进一步将再现性划分为其操作员以及操作员与部件交互作用这两个要素（如下图所示）。 在某种程度上，方差分析法比 X 和 R 法更准确，因为它考虑了操作员与部件