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反场箍缩装置KTX真空室构造稳定性分析 KTX 为中国科学技术大学在建的反场箍缩实验装置，在同类装置之间，其参数介于美国MST 和意大利的RFX 之间。KTX 真空室壁厚仅为6 mm，属于非标准环形薄壳构造，其构造的稳定性分析是确定构造设计是否合理的关键因素。本文利用有限元的方法，对KTX 真空室构造开展了线性和非线性屈曲分析。得到了两种情形下应力和变形加载曲线。通过对计算结果的比照和分析，验证了目前真空室构造的稳定性符合要求，并具有一定的安全裕度。  KTX 装置是一个反场箍缩实验装置，是有别于托卡马克、仿星器位形之外的环形磁约束等离子体聚变装置。它具有工程简单、比压高以及欧姆加热直接可达点火条件等优点，是先进磁约束聚变位形探索的重要方向。KTX 装置主机主要由24 个纵向场线圈，20 个极向场线圈，16 个平衡场线圈，真空室，导体壳，鞍型线圈，真空抽气系统及其各类支撑和支撑平台等部分组成。  所有磁体线圈实验时采用被动冷却，真空室采用双C 构造连接密封。其主要设计参数为：大半径1.4 m，小半径0.4 m，最大等离子体电流1 MA，电子密度2 × 1019 m-3，电子温度约600 eV，放电时间30～100 ms。整个KTX 装置高约为4.75 m，直径为7.7 m。装置尺寸与目前美国的MST 装置相当，但电流将超过MST，仅次于意大利的RFX 装置。