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. - 改善 Fa 良率的最佳方案 作者：Bruce Whitefield, Manu Rehani 和 Nathan Strader, LSI Logic Corp 2005-12-28 点击:1302 很久以来，定期检测每个工艺步骤增加的缺陷来验收用于生产的设备，已经成为 半导体业的惯例。对设备的缺陷状况做出的判断，对于器件的良率有非常重要的影响。 不 论这种检测的频率和影响如何，就采用的方法而言，是相对粗糙的，而且这种数据支持系统 主要是针对工程缺陷分析和传统的静态工艺控制 （SPC ）技术而设计的。 本文介绍 LSI Logic 采用最佳的设备控制方法，采用新的数据系统来改进其晶圆厂的设 备颗粒缺陷控制。这种方法调研了设备缺陷验收的整个企业过程，建立了一个新的数据系统 构造来支持所有人在这方面的努力。这种新的数据系统叫作Yield DRIVER ，它意味着通过设 备的明显改进而实现缺陷的降低。 良率和生产率 IC 制造工厂利润率中最高的两个杠杆因素是芯片的良率和设备的生产率。对以上两者 都非常关键的是如图 1 所示的简单的设备颗粒验收检测。检测颗粒是为了保证产品在交付之 前工艺设备不会产生降低良率的缺陷检测当步工艺前后点检片上颗粒的数量，来计算增加的 缺陷 数量。 像半导体制造中的许多其他动向一样，器件几何尺寸和运转晶圆厂费用的无情压缩，都 在推动设备颗粒特性的改善和更紧的控制。结果之一便是如何进行缺陷检测的确切细节已经 变得非常关键，同时这个过程还要足够简单，使操作人员能够每天来进行。 2002 年，在 LSI 的 Gresham 晶圆厂里，出于新技术导入和良率经济效益的考量，要求 设备的颗粒水平降低50%。并且这种改善要在现有设备的基础上实现，要避免基建投资， 改善总体的设备利用率而不增加成本。更换旧的工艺设备、购买更先进的颗粒检测设备不作 为选项。授权一个工厂围的缺陷控制职能交叉小组来完成这个任务。 降低缺陷的途径 . .可修编. . . - 这个缺陷控制小组决定首先来分析整个工厂围现存的设备缺陷控制方法，以发现改进的 机会。分析的主要发现是： ● 许多非常好的颗粒管理实例已经在使用之中。 ● 缺陷测量和计算的已知最佳方案（BKMs ）并没有在所有的测试中都贯彻实施。 ● 缺陷测量和控制的 BKMs 并没有在所有的设备中都贯彻实施。 ● 晶圆厂中的人并不是均等地拥有缺陷测量和结果分析的能力。 ● 经理们对于自己负责的设备，仅仅报告检测、维持缺陷性能的状况是不够的。 ● 缺陷数据系统主要是针对工程分析，而不是针对生产缺陷控制而设计。 简而言之，人们发现缺陷控制的知识和财富已经存在于这个组织中，但是并没有把这些 知识均衡地应用，在做一件事情时没有把所有的已知最佳方案结合起来。 这个缺陷控制小组认为：要完成缺陷降低的任务，最有效的方法，就是推动迅速彻底得 在所有工艺中实施已经存在的最佳实践案例，同时提供一个基础来支持高效、一致地运用这 些案例。 如果它是 BKM ，那为什么不采用呢？ 小组第一步是鉴别和记录缺陷控制的BKMs。 在回顾这些最佳个案时发现，似乎一些步骤，由于组织上、程序上或者基础上的原因，很难 实施或者不能在所有情况下实施。 人们经常说：大部分问题的起因是缺乏沟通。这对于设备缺陷的控制过程的确是正确的。 用如图 2 所示的工作流程方块图很容易描绘出这种情形。 方法 （process ）、系统基础 （system infrastructure ）和组织现实 （organizational realities ）， 存在于相互关联但又相互隔离的平面。要取得成功，设备缺陷控制过程必须在这所有三个维 . .可修编. . .