电子设备加工厂游标卡尺内部校准规程.pdfVIP

电子设备加工厂游标卡尺内部校准规程 2.1、目的：对游标卡尺进行内部校准，确保其准确度和适用性 保持完好。 2.2、范围：适用于普通游标卡尺及带表游标卡尺的内部核准。 2.3、校验基准：外校合格的卡尺。 2.4、环境条件：室温 2.5、校验步骤： a、检查卡尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹，带表 卡尺表头的指针是否完好，有无松动，刻度是否清晰，推动表头 是否平稳、平滑。 b、调校零位，或使指针对准零点。 c、取2～3块任意基准量块进行度量，量块被测面要干净、平整。 每块连续测量三次，每次测量值均应在允许误差范围内，将其平 均值及误差记录在《校准记录》内。允许误差范围根据不同卡尺 的精度分为±0.01mm、±0.02mm。 d、测内径接触面磨损程度：取两块量块（构成测量的基准面） 夹紧一块量块成“H”型，然后移动表头，使卡尺上面的测量端 张开后靠紧两基准面进行读数，每块测量三次，取平均值。测量 值与标准值根据不同卡尺的精度分为±0.01mm、±0.02mm，将其 平均值及误差记录在《校准记录》中。 e、可根据不同量程的卡尺选用不同的基准量块或组合进行校准； f、历次测量值与标准值之差，均在允许误差范围内，判校准合 格； 2.6、校准周期：每年一次