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0.?? 引 言
随着探测器技术水平提升以及生产工艺的进步,光电成像系统的灵敏度和分辨率得到了很大提高,已达到或接近背景限。在战术有效距离内显示出越来越多的目标细节和背景杂波,使得背景杂波成为影响光电成像系统目标获取性能不可忽视的重要因素[1]。因此,如何准确度量背景杂波,并合理地将量化的背景杂波嵌入到目标获取性能模型中,成为精确预测和评估光电成像系统性能的关键问题。
光电成像系统目标获取过程中,一般将场景中分散观察者注意力、干扰目标探测识别的背景因素称为杂波[2]。研究者们提出了多种背景杂波建模方法,可分为基于数学统计杂波度量,如统计方差(SV)及其改进的杂波度量[3]、基于图像纹理特征的杂
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