NIR01红外探伤仪（PPT介绍）.pdf

公司介绍 合能阳光公司作为国内第一家太阳能 光伏检验仪器及服务提供商，为国内外光 伏厂家提供最全面的硅料、硅棒、硅片等 成套检验设备及最优解决方案。 Phys Development Lab 是匈牙利公司， 在欧洲第一家生产和销售红外探伤系统的 制造商，提供光伏行业业界最优质的光伏 红外检测系统。 公司合作 合能阳光与匈牙利Phys Development Lab 合作。中方负责匈牙利方红外探伤仪在大中国 地区的市场和销售,匈牙利方负责合能阳光硅材 料检测设备在欧洲和推广和销售。 产品介绍 Model: NIR-01 NIR-01型红外探伤测试仪是专门用于多晶 硅片生产中的硅块硅棒硅片的裂缝、杂质、黑 点、阴影、微晶等缺陷探伤的仪器。 产品特点  自动化程度更高，测试效果更好 ■采用铟镓砷传感器，而非一般厂家采用固定值的模拟摄像管，具有硬件图 像校正和计算机参数控制的功能（包括亮度，伽马，积分时间），其灵 敏度好，探伤结果与实际情况一致性佳。不需为不同尺寸的硅块设置不 同的硬件参数（探伤位置，聚焦点，校准） ■我们的软件系统为不同硅块的表面情况及尺寸提供设置菜单，没有必要在 硬件上进行设置（当然我们也可以从硬件上进行设置）。 ■光源探照有效同质区域为300 ×330mm/550mm，我们采用了特殊扩散板材 料，保证了在没有图像处理的情况也能确保成像质量。  测试范围更广 ■不仅可以探测标准尺寸的硅块，而且可以探测任何尺寸的硅块，没有光源 照射区域限制。 ■也可直接对未抛光的硅块进行直接探测。 产品特点  寿命更长 ■红外照相机３年免费保修或更换的承诺 ■我们采用的是独特的含有冷却单元的工业级镀金近红外卤管，保证了光源 的持久耐用性，设备已经不采用普通卤管设计，我们提供了强致冷却单 元，为设备的正常使用提供了足够的冷却单元，大大延长了仪器的使用 寿命。 ■所有的部件的设计都达到了长期高强度使用及最小维护量的要求 ■即使在高照明的条件下，我们的相机传感器也几乎没有退化的情况。 ■有多年在欧洲生产销售应用的经验，产品具有优良的工业应用性。  检测更快 ■检测速度快，自动四面检测 1分钟,快速两面检测20秒,一面检测5秒 产品特点  多种规格可供选择,始终走在行业最前列 ■NIR-01-330:330mm的最高测试高度 ■NIR-01-420:420mm 的最高测试高度 ■NIR-01-550:550mm的最高测试高度  系统功能强大 ■可定制硅块缝合复原功能 ■可定制硅块尺寸测试模块 ■可根据客户需求进行功能模块定制，包括硅锭晶体生长情况进行工艺分析 ■可定制在线生产模式 ■可定制砷化镓磷化铟等其他半导体材料的探伤检测 ■可定制中文操作系统界面 产品性能 (Ext to 550mm) 产品性能 部分客户 宜兴中瑞光伏有限公司 上海九碧电子科技有限公司 常见异常 1. 微晶,出现位置不一定,多半会出现在中间。但两头也会有分布。(红色框内) 一 般情况下会有较大范围的黑色区域但是没有明显的边界。而且有些微晶可以参考 表面 的晶粒分布。 常见异常 常见异常 2. 裂缝,裂缝有两种,一种是垂直于光线入射方向的裂缝,一般会比较短小, 多半由杂质或温度差造成。 常见异常 另一种是与入射方向垂直方向的裂缝一般会贯穿硅锭的某个方向,表现出 来一般是一个黑色的面状,与微晶不同的是一般会有明显的边界 常见异常 3. SiC 硬质点一般尺寸较小,随机分布在硅锭中,表现为一个黑点。 常见异常 3. SiC 硬质点一般尺寸较小,随机分布在硅锭中,表现为一个黑点。 常见异常 4. SixNy 杂质,N 杂质由石英坩埚表面涂敷的氮化硅引入。一般会出现在 硅锭的顶部,边缘锐利。 常见异常 5. 测试之前要注意表面的状况,因为表面的痕迹及其他的沾污等会对测试 造成影响 常见异常 6. 个别电阻率较低的硅锭会对红外透射造成影响,整体效果会很暗 常见异常 Lower quality polished block Normal resist