统计过程控制培训教材.pptVIP

A2计算每个子组内的不合格品率 记录每个子组内的下列值 被检的数量─n 发现的不合格的数量─np 通过这些数据计算不合格品率 第六十三页，共九十八页。 A3选择控制图的坐标刻度 描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1.5到2倍。 劃圖區域 第六十四页，共九十八页。 A4将不合格品率描绘在控制图上 描绘每个子组的p值，将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。 当点描完后，粗览一遍看看它们是否合理，如果任意一点比别的高出或低出许多，检查计算是否正确。 记录过程的变化或者可能影响过程的异常状况，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图的“备注”部份。 第六十五页，共九十八页。 Ｂ計算控制限 B1計算過程平均不合格品率 B2計算上、下控制限 B3畫線並標注 建立p控制图的步骤B 第六十六页，共九十八页。 计算平均不合格率及控制限 第六十七页，共九十八页。 画线并标注 均值用水平实线线：一般为黑色或蓝色实线。 控制限用水平虚线：一般为红色虚线。 尽量让样本数一致，如果样本数一直在变化则会如下图： 100 200 300 100 200 100 100 200 300 100 1 2 1 2 1 2 1 2 3 2 第六十八页，共九十八页。 第六十九页，共九十八页。 Ｃ過程控制用控制圖解釋 C1分析數據點，找出