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氮气含量对溅射法制备氮化钛薄膜结构特性的影响
摘 要
本次实验通过SK-CK450C型号的磁控溅射设备,在不同氮气条件下,在洁净的硅片表面上分别制备了不同的氮化钛薄膜。实验中,采用EDX、SEM和拉曼光谱仪测试分析研究了其元素组分、表面形貌和晶体结构。结果表明:15%氮气含量下获得的样品符合化学计量比,其表面非常平整,为平整致密的微晶薄膜。随着氮气含量的降低,薄膜生长厚度增加,氮元素含量逐渐降低,导致内部应力增大,薄膜表面出现了大
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