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T/ZZB 1335—2019
高清成像用光学低通滤波片
1 范围
本标准规定了高清成像用光学低通滤波片的术语和定义、产品结构、基本要求、技术要求、试验方
法、检验规则、标志、包装、运输、贮存和质量承诺。
本标准适用于单反相机、工业相机、摄像机等高清成像设备用光学低通滤波片(以下简称“滤波片”)。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。
凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 191 包装储运图示标志
GB/T 1185 光学零件表面疵病
GB/T 2423.1 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温
GB/T 2423.2 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
GB/T 2423.3 环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验
GB/T 2423.22 环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化
GB/T 2423.24 环境试验 第2部分:试验方法 试验Sa:模拟地面上的太阳辐射及其试验导则
GB/T 2828.1 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
GB/T 2831 光学零件的面形偏差
GB/T 7896 人造光学石英晶体试验方法
GB/T 11164 真空镀膜设备通用技术条件
GB/T 15488 光学玻璃
GB/T 15489.1 光学玻璃测试方法 光学性能
GB/T 19142 出口商品包装通则
GB/T 28786 真空技术 真空镀膜层结合强度测量方法 胶带粘贴法
GB/T 32988 人造石英光学低通滤波器晶片
GB 50472 电子工业洁净厂房设计规范
JB/T 8226.1 光学零件镀膜 减反射膜
JB/T 8226.8 光学零件镀膜 截止滤光膜
3 术语和定义
GB/T 1185和 GB/T 32988界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
反射膜 anti-reflectance coating
为降低表面反射率、提高光的透过率,在滤波片表面所镀的光学薄膜。
3.2
1
T/ZZB 1335—2019
截止波长 cut off wavelength
透过率在50%时所对应的波长,分为低频波段截止波长λ与高频波段截止波长λ,如下图1所示。
1 2
a) 低频波段截止波长 b)高频波段截止波长(右)
图1 截至波长
3.3
雾度 haze
透过产品而偏离入射光方向的散射光通量与透射光通量之比,用百分数表示。
3.4
光学低通滤波片 optical low pass filter
用石英晶体等光学材料制作,采用单片或多片组合并镀膜等方式,让某一频率以下的光信号分量通
过,而抑制该频率以上的光信号分量的光学元器件。
4 产品结构
本标准中的滤波片由单片或多片石英晶体、光学玻璃组合而成,片之间用光学胶粘合,组合的外侧
面镀有光学薄膜,见图2。
说明:
L--长度;
W--宽度;
t--厚度;
1…n--单片或多片石英晶体、光学玻璃的组合。
图2 产品结构图
2
T/ZZB 1335—2019
5 基本要求
5.1 设计
应采用计算机辅助软件,具备对滤光膜结构的仿真设计能力。
5.2 材料
5.2.1 主要原材料石英晶体应达到GB
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