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液相芯片检测系统、分析一种或多种待分析物的方法.pdfVIP

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  • 2023-04-23 发布于北京
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液相芯片检测系统、分析一种或多种待分析物的方法.pdf

    本发明提供的液相芯片检测系统、分析一种或多种待分析物的方法，通过电极对检测区的待分析粒子施加电场，使待分析粒子发生电化学发光反应，发出与待分析粒子上结合的待分析物相关的报告光信号；进而由检测装置检测报告光信号得到报告光信号数据，由处理装置对报告光信号数据进行处理得到待分析物的含量。由于采用电化学发光反应，在检测报告光信号时无需激发光源，也就没有光源的背景噪声，提高了报告光信号检测的灵敏度和准确性，也就提高了待分析物检测的灵敏度和准确性。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113984722 A (43)申请公布日 2022.01.28 (21)申请号 20201

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