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本发明涉及半导体技术领域,具体涉及一种高深宽比TSV金属柱的电镀工艺。本发明高深宽比TSV金属柱的电镀工艺包括以下步骤:在硅片的上下表面分别制作第一TSV盲孔和第二TSV盲孔,第一TSV盲孔与第二TSV盲孔之间有硅材质或钝化层隔离;在硅片的表面和TSV盲孔侧壁形成钝化层,然后在硅片的一面和第一TSV盲孔侧壁沉积种子层;干法刻蚀钝化层,然后将种子层作为导电层继续在硅片表面和TSV盲孔中电镀金属层,退火后抛光所述硅片双面的金属层,得到TSV盲孔填满金属柱的双孔互联的硅片结构,能够方便地制备具有高深宽
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113161289 A
(43)申请公布日 2021.07.23
(21)申请号 202110435726.8
(22)申请日 2021.04.22
(71)申请人 浙江集迈科微电子有限公司
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