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测试电路、芯片、测试系统及测试方法.pdfVIP

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  • 2023-05-25 发布于四川
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测试电路、芯片、测试系统及测试方法.pdf

    本申请公开了一种测试电路、芯片、测试系统及测试方法。该测试电路包括第一控制器、第一接口、第二接口和第二控制器。第一控制器在确定芯片切换至第一功耗状态的情况下，输出第一状态信号；第一接口的一端与第一控制器连接，第一接口的另一端用于与芯片外部的辅助电路连接，将第一状态信号输出至辅助电路，通过辅助电路基于第一状态信号反馈唤醒信号；第二接口的一端用于与辅助电路连接，并接收唤醒信号；第二控制器分别与第二接口和第一控制器连接，第二控制器用于基于唤醒信号向第一控制器发送中断信号，通过第一控制器控制芯片从第一功

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116148644 A (43)申请公布日 2023.05.23 (21)申请号 202310437156.5 (22)申请日 2023.04.21 (71)申请人 上海励驰半导体有限公司 地址 2

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