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本发明公开了一种微纳米CT投影数据的中心切片对齐方法，该方法包括如下步骤：步骤1，获取样品在投影角下的待校正投影图像序列为取待校正投影图像序列中的第一待校正投影图像PA和第二待校正投影图像PB，并获取第一待校正投影图像PA对应的第一参考投影图像PAstd以及第二待校正投影图像PB对应第二参考投影图像PBstd；步骤2，将待校正投影图像序列中的第t张待校正投影图像Pt(t＝1，2，...，NA，t≠A，B)按照预设的搜索角序列中的每一个角度进行旋转，得到一组旋转后的投影图像序列再与第一参考投影图像
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112233156 A
(43)申请公布日 2021.01.15
(21)申请号 202011094025.4
(22)申请日 2020.10.14
(71)申请人
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