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- 2023-05-30 发布于四川
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本文公开一种检测器,其具有在基底中的像素并被配置为检测入射于其上的辐射粒子;所述基底中的第一保护环,其围绕所述像素,并包括所述基底中的第一掺杂半导体区域以及与所述第一掺杂半导体区域电接触的第一导电层;所述基底中的第二保护环,其围绕所述第一保护环,并且包括所述基底中的第二掺杂半导体区域以及与所述第二掺杂半导体区域电接触的第二导电层。所述第一导电层朝向所述第一保护环的内部悬伸于所述第一掺杂半导体区域之上,其悬伸程度比所述第二导电层朝向所述第二保护环的内部悬伸于所述第二掺杂半导体区域之上的悬伸程度大。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112470038 A
(43)申请公布日 2021.03.09
(21)申请号 201880095329.7
(22)申请日 2018.07.12
(85)PCT国际申
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