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多端口芯片测试方法及装置.pdfVIP

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  • 2023-06-04 发布于四川
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多端口芯片测试方法及装置.pdf

    本公开涉及一种多端口芯片测试方法及装置，所述装置包括主机、开关组件、电平转换组件、端口切换组件，所述主机用于：建立端口切换组件中各个输入端口与各个输出端口的连接关系；根据测试信号的类型建立模拟测试通路或数字测试通路，其中，若测试信号的类型为模拟信号，则通过开关组件与端口切换组件的各个输入端口建立模拟测试通路；若测试信号的类型为数字信号，则通过开关组件和电平转换组件与所述端口切换组件的各个输入端口建立数字测试通路；发送所述测试信号到所述测试芯片进行测试，并接收所述测试芯片返回的结果信号。本公开实施

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115754683 A (43)申请公布日 2023.03.07 (21)申请号 202211643038.1 (22)申请日 2022.12.20 (71)申请人 上海晟矽微电子股份有限公司 地址

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