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- 2023-06-06 发布于四川
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本发明公开了一种基于深度神经网络的逻辑电路老化预测方法。该方法包括构建片上系统，并进行老化数据采样；对老化数据进行数据整理；对采样数据进行数据积分处理；对积分数据进行数据平均处理；对平均积分数据进行数据分段；对平均积分数据进行数据筛选；对筛选数据进行数据预处理；基于分段结果，采用预处理数据训练神经网络模型；对神经网络模型进行验证；采用训练好的神经网络模型进行逻辑电路老化延迟预测。本发明为了解决现有的逻辑电路老化预测方法存在因工艺、电压和温度产生的偏差和侵入性较强的问题，采用原位传感器进行测量，利
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112765923 B
(45)授权公告日 2022.05.20
(21)申请号 202110119332.1 G06N 3/08 (2006.01)
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