半导体结构制作方法及半导体结构.pdfVIP

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  • 2023-06-17 发布于四川
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本发明实施例属于半导体制造技术领域,涉及一种半导体结构制作方法及半导体结构,用于解决的接触垫容易断裂的问题。该半导体结构制作方法包括:在衬底上形成导电层,去除部分导电层以形成由多个接触垫构成的接触结构,每一接触垫与一个衬底上的晶体管结构电连接;在形成接触垫之后,通过干法蚀刻的方式去除接触垫背离衬底的顶端上的残留核心;与湿法蚀刻相比,干法蚀刻具有各向异性,在向衬底的方向蚀刻接触垫时,不会对接触垫侧壁以及接触垫侧壁所在平面的其他膜层造成破坏,也就是说,接触垫与绝缘结构背离衬底的表面之间的导电阻挡层不

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114446887 A (43)申请公布日 2022.05.06 (21)申请号 202011217685.7 (22)申请日 2020.11.04 (71)申请人 长鑫存储技术有限公司 地址 230

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