SJ 1147-1993电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电常数试验方法.pdf

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中华人民共和国电子行业标准电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和SJ/T 1147--93代替 SJ1147-77介电常数试验方法Test method for dielectric loss angle tangent and dielectriccanstant of organic film for use in capacitors1 主题内容与适用范围1.1主题内容本标准规定了电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电常数的试验方法。1.2适用范围本标准适用于厚度为2~~50m的电容器用有机薄膜在正常气候条件下或高温下,频率为50Hs、1kHz或1MHz时的介质损耗角正切值和介电常数的测定。2 引用标准SJ/T1145电穿器用有机薄膜电性能试验方法通则SJ/T1146电容器用有机薄膜体积电阻率试验方法3方法要点本方法是在规定的频率下,用电桥或其他仪器测出试样的电容或介质损耗角正切值,并根据试样的电容值,厚度以及测量电极面积算出其介电常数。4·测置仪器能满足薄膜试样的介质损耗角正切值和电容值测试范围的任何仪器均可使用,但测试介质损耗角正切值误差应不大于1%ltg?!+1×10s,测试电容值时,误差应不大子±1%。测试时,试样与测量导线应有良好的屏蔽。5 试验方法5.1方法一‘真空蒸发铝电极法(本方法为仲裁方法)5.1.1试样采用起SJ/T1146中3.1.1.1条规定的相同试样,每组试样不少3个试样要求和试验条件按SJ/T1145的有关规定。中华人民共和国电子工业部1993-12-17批准1994-06-01实施n SJ/T 1146-93XXXXX图 1图21.金属电极:1.金属电极;2.导电橡皮。2.导电橡皮;3. 铝箔3. 1. 2. 3 试验步骤a.测试电压为100~~1000Vb.将试样夹入两电极之间,两电极必须同心,电极与试样必须紧密接触,对试样进行充分放电,以消除静电的影响;将试样、电极与高阻计相连接,然后进行测试,加电压1min后,读取被测试样的体积c.电阻值:d.在主电极接触的范内测量试样3点的厚度,取其算数平均值作为试样厚度。3.1.2.4试验结果的计算按3.1.1.4条。附加说明:本标准由电子工业部标准化研究所归口。本标准由铜陵市薄膜电容器总厂负贵起草。本标主要起草人章晓红、叶立新、周荣。本标准于1977年6月首次发布,××××年×月第-次修订。 SJ/T 1147--935.1.2电极与SJ/T1146中3.1.1.2.2条规定的电极相同。5.1.3试验步骤a.将试样放置在上下电极之间,上电极应与试样蒸镀面完全吻合;b.测试频率为50Hz(如果需要,也可用1kHz及1MHz),测试电压不超过250V,记录内容的测量值;C.在蒸镀面周围测量试样未被蒸镀部分的膜厚(至少测量五点)取其平均值为试样的厚度。5. 1. 4试验结果的计算5.1.4.1介电常数按下式计算,取3个试样计算结果的平均值作为试验结果。Cx: d14.4D式中介电常数;Cx—-试验样电容值,pF;d试样厚度,cm,D)上电极直径。5.1.4.2介质损耗角正切值的计算方法根据不同的仪器而定,其结果以3个试样的算术平均值作为试验结果。5.2方法二橡皮铝箔电极法5.2.1试样5.2.1.1 试样尺寸根据测量电极尺寸而延,但需保证大于电极直径10mm以上。5. 2. 1. 2试样层数按试样厚度(d)而定,见下表,层间必须保特清洁,空气应排除,且迭合整齐,无折皱及损伤。试样厚度及层数厚度(d)雲数μtnd≥10110d62d635.2.1.3试样要求和试验条件按SJ/T1145的有关规定。5.2.1.4试样数量每组试样不少于3个。5.2.2电极.上电极直径为20土0.1mm,下电极直径为25土0.lmm,材料为铜,电极工作面粗糙度a.R.的最大允许值为0.8!m,用螺旋压紧接触式电极夹具使电板与试样紧密接触。夹具的金属材料为铜或钢,绝缘材料为聚四氟乙烯,夹具本身的介质损耗角正切值应不大于1×10-5b.在上下电极的工作面再附加橡皮铅箔电极。橡皮为导电橡皮,厚约1mtn,表面粗糙度R。的最大允许值为1.25μm,邵氏硬度为Ha40~~Ha50,体积电阻率应不大于1000Q*cm,铝箔应退火,厚度要小于10um,表面应平整光滑,见图1。7 SJ/T 1147--93图11.金电极;2.导电橡皮:3.铝箔。5.2.3 试验步骤a。将试样夹入两电极中间,两电极必须同心,电极与试样必须紧密接触。b.测试频率为50Hz(如果需要,也可用1kHz及1MHz),测试电压不超过250V,记录电容的测量值c.在放暨电极的面积内,测量试样3点的厚度,取其算数平均值作为试样厚度。5.2.4试验结果的计算按5.1.4进行。附加说明:本标准由电子工业部标准化研究所归口。本标准

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