SJT 10804-2000半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理.pdf

ICs 31.200SJL 55备案号：8120-2001中华人民共和国电子行业标准SJ/T 10804—2000半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理Semiconduetor integrated circuitsGeneral principles of measuring methods for level translator2000-12-28发布2001-03-01实施中华人民共和国信息产业部发布 前言本标准在原国家标准GB6797-86《半导体集成接口电路子电平转换器测试方法的基本原理》的基础之上进行修订。本标准与GB6797--86相比，所考虑参数基本相同，技术内容作了相应处理，同时增加los参数测试。本标准的编制修订有利于我国半导体集成电路行业的技术交流和经济交流。本标准代替.GB6797-86。本标准由信息产业部提出。本标准由中国电子技术标准化研究所归口。本标准起草单位：中国电子技术标准化研究所。本标准主要起草人：李燕荣本标准首次发布时间：1986年。 目次范围12引用标准定义34要求5静态参数测试5.1输入钳位电压Vik5.2输入高电平电压ViH5.3输入低电平电压VIL5.4＇输出钳位电压Vok5.5输出高电平电压VoH5.6输出高电平阀值电压VoHT5.7输出低电平电压Vo5.8输出低电平阙值电压VoLT85.9输入电流..95.10输入高电平电流In105.11输入低电平电流IL115.12输出高电平电流IoH12输出低电平电流IoL135.135.14 输出高阻态时高电平电流 IozH145.15输出高阻态时低电平电流IozL15165.16电源电流Icc（IpD、lE）175.17输出高电平时电源电流IccH5.18输出低电平时电源电流IccL18195.19输出短路电流los206动态参数测试-: 206.1输入电容C专业6.2输出由低电平到高电平传输延迟时间 tpLH21.226.3输出由高电平到低电平传输延迟时间tpHL-++++6.4输出由高阻态到高电平传输延迟时间tpzH24： 256.5输出由高阻态到低电平传输延迟时间 tpzL: 276.6输出由高电平到高阻态传输延迟时间tpHz286.7输出由低电平到高阻态传输延迟时间tpLz-296.8输出由低电平到高电平转换延迟时间tTLH316.9输出由高电平到低电平转换延迟时间tTHL 中华人民共和国电子行业标准半导体集成电路SJ/T10804-2000代替GB/T6797-86电平转换器测试方法的基本原理Semiconductor integrated circuitsGeneral principles of measuring methods for level translator1主题内容与适用范围本规范规定了半导体集成电路电平转换器（以下简称器件）电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路双极型电平转换器电特性的测试。2 引用文件SJ/T10734—96半导体集成电路文字符号电参数文字符号3 定义本标准所有参数符号和定义符合SJ/T10734的规定。4 要求4.1若无特殊说明，测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定。4.2测试期间，应避免外界干扰对测试精度的影响。测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定。4.3测试期间，施于被测器件的电源电压的误差应在规定值的土1%以内：施于被测器件的其他电参量的准确度应符合器件详细规范的规定。4.4被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件。4.5被测器件有内部存储或滞后现象时，应规定预置条件。4.6测试期间，应避免因静电放电而引起器件损伤。5静态参数测试5.1输入钳位电压Vik5.1.1目的测试带有附加钳位二极管的输入端的输入钳位电压。5.1.2测试电路图2001-03-01实施中华人民共和国信惠产业部2000-12-28批准-1 - SJ/T 10804--2000Vik的测试电路图如图1所示。电源被测器ViK件lik图 15.1.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定：a．环境或参考点温度；b.电源电压；c．输入端流出电流 Iix;d．输出端开路。5.1.4测试程序5.1.4.1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5.1.4.2电源端施加规定的电压。5.1.4.3被测输入端流出规定的电流Iix；其余输入端施加规定的条件。5.1.4.4在被测输入端测得Vik。5.1.4.5按本标准5.1.4.3～5.1.4.4的规定，分别测试每个输入端。5.2输入高电平电压ViH5.2.1目的输出电压为规定值时，测试输入端所施加的最小高电平电压。5.2.2测试电路图V的测试电路图如图2所示。- 2 - SJ/T