SJT 10067-1991BT40型可调单结晶体管详细规范.pdf

SJ中华人民共和国电子工业行业标准SJ/T 10067--91电子元器件详细规范BT40型可调单结晶体管（可供认证用）1991-07-01实施1991-04-08发布中华人民共和国机械电子工业部发布 中华人民共和国电子工业行业标准电子元器件详细规范BT40型可调单结晶体管SJ/T 10067-91Detail specification for etectronic componentprogrammble unijunction transistors for type BT 40（可供认证用）本标准适用于BT10型可调单结晶体管，本规范符合GB4936.1--85《半导体分立器件总规范》1类的要求。中国电子元器件质量认证委员会标准机构是中国电子技术标准化研究所。中华人民共和国机械电子工业部1991-04-08批准1991-07-01实施 SJ/T 10067—91中华人民共和国机械电子工业部评定器件质量的根据：GB4589.1《半导体器件分立器件和集成电路SJ/T 1006791总规范》GB12560《半导体分立器件分规范》BT40型可调单结晶体管详细规范订货资料：见本规范第7章1机械说明2简略说明外形标准：GB7581《半导体分立器件外形尺可调单结晶体管寸》中代号A3-01B及A3-07A半导体材料：N型硅外形图及引出端识别：封装：金属（空腔）；塑料（非空腔）应用：适用于双稳态线路，电压偏置线路，时间线路及点火和振荡线路3质量评定类别1类A3-01Bμx中申申参考数据：（Tamb=25℃）Ptot(T)=300 mWIp≤5 μAA3-07AIr :0.2~0. 6 VA-阳极Vr≤1.5 vK-阴极leAn ≤ 10 nAG-栅极Icks ≤ 100 nA公称尺寸：单位mm标志：见本规范第6章2 SJ/T 10067--91极限值（绝对最大额定值）数值条文号极限值符号单位最小值最大值℃4. 1工作环境温度-55125Tamb4. 2贮存温度 Tstg55℃1254. 3 125最高有效(等效)结温T(v)℃4. 4300与温度相关的最大总耗散Ptot(T)mA功率?4. 540V最高工作电压Vok注：①Tamb25℃，Prot按3mW/℃线性降压。5电特性检验要求见本规范的第8章值数特性和条件除非另有规定条文号符号单位检验组别Tamb= 25℃最小值最大值5. 1峰点电流Ip5A2bμAVs=10 V;Rg = 10 ks5. 2补偿电压0. 20. 6VVTA2bVs=10 V;Re =10kQ5.325谷点电流IvA2bHAVs==10 V;Re=10kQ5. 410阳栅极间电流IGAOnAA2bVcA =40 V;5. 5100阴栅极间电流IGksnAA2bA、K短路5. 61. 5v正向电压VrA2bIr = 50 mA6 标志6.1器件上的标志3 SJ/T 10067—91型号和质量类别（放在型号后面）；a.b.制造厂商标；检验批识别代码；c.d．认证合格标志(适用时)。6.2包装盒中的标志，重复器件上的标志；a.“防湿”等。b.7订货资料型号；a.b.本规范编号；c．其它。8 试验条件和检验要求A 组—-逐批全部试验是非破坏性的条件检验要求除非另有规定值数检验或试验引用标准1类Tamb = 25C单位LTPD最小值最大值5A1分组外部目检5.1.1^2a分组不工作器件10.5.3VGA=40 V1μA1GAO10μA10.5. 4Vok40V;AK短路Icks5A2b分组5μAIp10.5.1Vs =10 V; RG =10 k12v0. 6VT10.5.20. 2Vs=10 V; R 10ks21010.5.3VGA40VnAIGA t100nA10.5.4Vck=40V;AK短路Icrsv1. 5VF10.5.2Ip=50mA2510.5.1Vs =10 V; RG =10 kQμAIv4- SJ/T 10067--. 91B组-逐批标明（D)的试验是破坏性的试验（3.6.6）检验要求条件检验或试验引用标准除非另有规定数值1类单位Tamb=25℃LTPD最小值最大值B1 分组15尺寸5.2条见本规范第1章附录 CB3分组15引线弯曲GB 4937方法1GB 4937(D)2.1.2受试引出端数：32.1.1.1外加力：2.5NB4 分组15可焊性GB 4937试验 bGB 49372. 2. 12. 2. 1受试引出端数：3B5分组20a空腔器件温度变化GB4937两箱法3. 1.1Ta = 55 ℃T ==125 ℃C继之以循环次数：5次密封GB 4937细检漏：漏率：50mPa cm/s3. 7. 4方法1GB 4937粗检漏：3.7.5.6方法3b非空腔器件温度变化GB4937两槽法：3.1.2