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采样点数对zrnke多项式拟合精度的影响 光学元件曲面拟合 在光学系统的研究中，有必要调整检测到的光学元件的结构。Zernike多项式由于在单位圆上加权正交、系数相互独立、且其系数易与Seidel像差函数建立联系的性质常被作为基底函数系来拟合光学元件曲面。在进行曲面拟合时,采样点数目选取较少,拟合精度很差;采样点数目选取较多,会使得测量工作量大增,耗费较多的人力物力。因此,有必要对Zernike多项式拟合曲面中采样点数目进行一定的研究。 1 矛盾方程的解析法 要拟合的曲面用n项Zernike多项式表示为 W(x,y)=a1Z1(x,y)+…+anZn(x,y)=ATZ(1) 式中:A=(a1,a2,…,an)T为Zernike多项式系数;Z=[Z1(x,y),Z2(x,y),…,Zn(x,y)]为n项Zernike多项式。 现有m个离散数据点Wi(xi,yi),令qij=zj(xi,yi),i=1,2,…,n。代入(1)式得到矛盾方程组(mn) q11a1+q12a2+?+q1nan=W1q21a1+q22a2+?+q2nan=W2?qm1a1+qm2a2+?+qmnan=W1???????????(2)q11a1+q12a2+?+q1nan=W1q21a1+q22a2+?+q2nan=W2?qm1a1+qm2a2+?+qmnan=W1}(2) 该矛盾方程一般不存在通常意义下的解,得到的解是最小二乘解。在实际应用中,为改善方程组的条件矩阵,发展了两种算法,一是从基底函数入手,通过变换函数族的基底来改善法方程组状态;二是直接从矛盾方程入手,应用Householder变换把系数正交三角化,直接求解拟合系数。 2 zern东南角项数的拟合规律 由上节可以看出,拟合曲面时首先需要对曲面进行采样。采样点的数目过少时,拟合得到的Zernike多项式所表示的曲面与实际的曲面形状之间的误差过大;采样点的数目过多,则会使得计算量增大,计算时间过长,而且采样的工作量大增,耗费较多的人力物力。本节将针对这一问题加以分析研究。 整个研究方法是基于不完全归纳法进行的。分析过程分以下几个步骤: 1) 建立一个测试函数来表示曲面形状。 2) 拟合得到的Zernike多项式所表示的曲面与实际的曲面形状之间的误差用均方根值(RMS)来表示,计算得到RMS与采样点数目的关系图以及RMS与采样点数目、Zernike多项式的项数的关系图,并总结与拟合精度相关的规律。 3) 换一个新的测试函数来表示曲面形状,重复步骤1)和2),总结得到相同的规律。 首先,建立第1个测试函数 z(x,y)=x2+3y3+5y, 0≤x,y≤1 (3) 并在x和y方向均匀采样,得到的采样点数目与RMS值的关系图见图1,曲线1～16分别代表Zernike项数为:4,6,8,12,18,24,32,40,50,72,90,98,144,200,242,288时的情况。 由图1可以得到以下的规律: 1) RMS值随着采样点数目成反变化。而且,在关系图中的曲线一般存在一个明显的曲线曲率变化点,当采样点数目大于该点时,RMS值随着采样点数目变化的速度变得非常缓慢。 2) Zernike多项式的项数太少时,RMS值非常大。这表明此时的拟合效果很差,采样点数目的增大不能使得RMS值降低至一个令人满意的数值。 3) 当Zernike多项式的项数大于一定值后,在相同的采样点数目情况下,Zernike多项式的项数越多,RMS值越大。或者说,在相同的RMS值要求下,Zernike多项式的项数越多,需要的采样点的数目也越多。随着采样点数目增大,不同项数Zernike多项式拟合曲线趋于相同的数值。 由规律2)和3)可以看出,对于一个需要拟合的曲面来说,存在一个最为合适的Zernike多项式的项数。当拟合所用的Zernike多项式的项数小于这个合适值时,RMS值比较大,拟合精度较差。当拟合所用的Zernike多项式的项数大于这个合适值时,拟合所用的Zernike多项式的项数则越多,得到的RMS值也越大。因此要尽可能选用较少项数的Zernike多项式来进行曲面拟合。 由规律3)可知,RMS值与Zernike多项式的项数具有一定的关系。当以采样点数目与Zernike多项式项数的比值作为自变量RMS为因变量时,得到的样项比(采样点数目与Zernike多项式项数的比值)与RMS值的关系图见图2。曲线1～16分别代表Zernike项数为:4,6,8,12,18,24,32,40,50,72,90,98,144,200,242,288时的情况。由图2可以看出,当Zernike多项式的项数小于30时,样项比大于10以后,RMS值的变化已经很小,因此一般可以采用样项比等于10来确定拟合所需要的采样点的数目;当Zerni