集成门电路功能测试实验报告(肖思文).docVIP

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2023-10-09 发布于湖北
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集成门电路功能测试实验报告(肖思文).doc

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集成门电路功能测试实验报告姓名：肖思文班级：物联1001 学号：20100810324 基本知识点：逻辑值与电压值的关系。常用逻辑门电路功能及其测试方法。硬件电路基础实验箱的结构、基本功能和使用方法。实验内容：基本门电路的逻辑功能测试输入输出Y 74LS08 74LS32 74LS04 74LS00 74LS86 A B Y U/V Y U/V Y U/V Y U/V Y U/V 0 0 0 0.19 1 3.52 1 3.50 1 3.49 0 1 0 0.19 0 0.20 1 3.49 1 3.50 1 0 0 0.19 1 3.51 1 3.50 0 0.20 1 1 1 3.49 0 0.20 0 0.47 0 0.20 所测试的基本门电路的逻辑功能与预测实验结果相同。 2、逻辑门的转换利用 74S00 与非门组成非门，2 输入与门,2 输入或门电路，画出实验电路图，并测试其逻辑功能，验证结果。非门：逻辑图： A Y 0 1 3.50V 1 0 0.17V 实验结论：所测数据与理论数据相同，验证了非门逻辑。与门：逻辑图： A B Y 0 0 0 0.17V 0 1 0 0.17V 1 0 0 0.17V 1 1 1 3.49V 实验结论：所测数据与理论数据相同，验证了与门逻辑。或门：逻辑图： A B Y 0 0 0 0.17V 0 1 1 3.50V 1 0 1 3.49V 1 1 1 3.50V 实验结论：所测数据与理论数据相同，验证了或门逻辑。 3、门电路的基本应用测试用“异或”门和“与非”门组成的半加器的逻辑功能。根据半加器的逻辑表达式可知，半加器的输出的和数 S 是输入 A、B（二进制数）的“异或”，而进位数 C 是 A、B 的相“与”，故半加器可用一个集成“异或”门和二个“与非”门组成，如图 1.3.3 所示。 ⑴ 在实验箱上用“异或”门(74LS86)和“与非”门连接如图 1.3.3 所示逻辑电路。输入端A、 B接“逻辑电平”开关，输出端 S、C接“电平显示”发光二极管。 ⑵ 通过电平开关改变输入A、B的逻辑状态置位，观测输出端的逻辑状态，列表记录。逻辑电路图： A B S C 0 0 0（0.15V） 0（0.11V） 0 1 1（3.54V） 0（0.11V） 1 0 1（3.54V） 0（0.11V） 1 1 0（0.19V） 1（3.54V）实验结论：实验验证了半加器的逻辑功能。实验总结：由于这次实验相对于比较简单，做起来也比较顺手，但是在测量数据的时候也会出现一些小问题，这次实验让自己了解了非门，与门，或门的逻辑功能，也了解了半加器的逻辑功能，同时加深了自己对实验箱上面连线组成逻辑电路有了更加深的理解。