光伏组件PID测试介绍.pptxVIP

光伏组件PID测试的介绍华阳检测 ● 国内新能源行业技术服务领军者新能源领域质量监督专业服务机构目录一、PID的产生原理二、PID测试失效案例三、PID测试要求及流程图四、问答PID产生的原理 当内部光伏电路相对于地面为负偏压时，框架和电池之间的电压可导致玻璃中的钠离子向电池表面漂移，电池表面通常具有氮化硅（SiN）抗反射涂层，如果这个涂层上的缝隙足够大，允许钠离子进入电池或电荷流向玻璃，形成的漏电流就会通过边框或安装支架流入大地，从而出现PID效应。PID测试失效案例PID测试失效-封装/背板材料受到了电化学腐蚀试验条件：85℃，85%RH，-1500V，96h（IEC62804-1-1：2015版的测试标准）PID测试前的EL图示PID测试后的EL图示PID测试要求及流程图测试标准：IEC TS 62804-1：2015 Photovoltaic(PV) module-Test methods for the detection of potential-induced degradation – Part 1:Crystalline silicon；样品要求：4块组件；测试前：外观，EL测试（Isc, 0.1Isc），最大功率确定，湿漏电测试，接地连续性；测试后：外观，EL测试（Isc, 0.1Isc），最大功率确定，湿漏电测试。PID测试要求及流程图常规晶硅组件测试