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本发明涉及一种在透射电子显微镜中施加原位温度梯度场的方法，包括以下步骤：(1)将装载待测微纳样品的测试芯片与原位样品杆固定，并使得待测微纳样品与样品杆形成通路；(2)将原位样品杆插入透射电子显微镜中，并连接外加直流源；(3)往测试芯片中通入预设好的直流电流，形成焦耳热并热传导至待测微纳样品上，即实现对待测微纳样品施加原位温度梯度场。与现有技术相比，本发明实现了在透射电子显微镜原位测试平台中，对待测样品施加温度梯度场，具有加工简单，升温度范围广，可实时、实空间观察等优点。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 117030755 A
(43)申请公布日 2023.11.10
(21)申请号 202311252525.X
(22)申请日 2023.09.26
(71)申请人 复旦大学
地址 200433
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