半导体元件的探针设备.pdfVIP

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  • 2023-11-15 发布于四川
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本公开提供一种探针设备。该探针设备包括一平台;一机械手臂,设置在该平台上并具有一探针;以及一测试装置,设置在该平台上。该测试装置包括一插槽,具有容纳一待测元件的一腔室;以及一盖体,设置在该插槽上。该插槽包含一导热材料。该盖体包括一盘体;一电路板,贴附到该盘体;以及一开口,穿过该盘体与该电路板,以暴露该插槽的该腔室。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117054699 A (43)申请公布日 2023.11.14 (21)申请号 202310237685.0 (22)申请日 2023.03.13 (30)优先权数据 17/742,546 2022

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