T_CASAS 028-2023 Sub-6GHz GaN射频器件可靠性筛选和验收方法.docxVIP

ICS 31.080 CCS L 40/49 团 体 标 准 T/CASAS 028—2023 Sub-6GHz GaN 射频器件可靠性筛选和验收方法 Reliability screening and acceptance method for Sub-6GHz GaN radio-frequency devices 版本：V01.00 2023-06-30 发布 2023-07-01 实施 第三代半导体产业技术创新战略联盟 发布 目 次 前言 III 引言 IV 范围 1 规范性引用文件 1 术语和定义 1 一般要求 2 筛选 2 筛选应遵循的原则 2 筛选环境 2 筛选操作人员 3 对仪器设备的管理与使用 3 筛选记录 3 允许的不合格品率（PDA） 3 其它需要说明的问题 3 验收 3 验收分类 4 验收人员 4 验收所用仪器设备和测试方法 4 验收器件的贮存期 4 验收报告及资料 4 详细要求 5 筛选 5 筛选程序 5 筛选方法 6 筛选后不合格品的处理 8 验收 8 验收程序 8 代验器件的验收要求和程序 11 参考文献 12 的规 ASAS 任何 限公导体 轶、 引 言 Sub-6GHz 频段提供了更大的连续通信带宽，满足了更高的速率，是 5G 网络布局的重要部分。而Sub-6GHz 频段的 GaN 射频器件作为至关重要的一环，其质量直接关系整个系统的可靠性，因此，制定Sub-6GHz GaN 射频器件可靠性筛选和验收方法，对提升产品质量、系统可靠性及稳定性具有重要意义。 -6GHz GaN 射频器件可靠性筛选和验收方法 范围 本文件描述了 Sub-6GHz GaN 射频器件（以下简称“器件”）的可靠性筛选和验收方法。本文件适用于射频器件的生产、测试、检验和质量评价。 规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件， 仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GJB GJB 128A—97 841—90 半导体分立器件试验方法 故障报告、分析和纠正措施系统 GJB 1469—93 电子产品防静电放电控制大纲 GJB 2650—96 微波元器件性能测试方法 GJB 4027B—2021 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GB/T 4586—1994 半导体器件 分立器件第 8 部分：场效应晶体管 术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。 Sub-6 GHz 5G NR 中的 FR1 频段，即处于 6 GHz 以下的频率范围。 筛 选 screening 为剔除早期失效的器件而进行的试验。 可靠性 reliability 器件在规定的时间内完成规定功能的能力。 变化量（△）极限 delta(△)limit 在规定的测试中，使被测器件能在接收的前提下，其规定参数的最大变化值。 注： 它是将当前测试结果与规定的某一先前测试结果进行比较得到的。当用百分数表示时，则应将当前的变化值与先前的测试值相除来计算。 一般要求 筛选 筛选应遵循的原则 除非另有规定，筛选应遵循以下原则： 被筛选器件应为生产定型或设计定型、工艺稳定的器件； 筛选项目的试验或检验不得对器件造成破坏性损伤； 筛选所施加的应力（电应力、机械应力、环境应力等）不得超过器件规范规定的额定应力； 筛选记录应数据完整，准确无误。筛选者应签署姓名及日期，并对筛选结果负责； 当要求测试器件参数变化量或变化率时，应将器件逐个编号。 筛选环境 电测量环境条件 若无其他规定，电测量应在下列环境中进行： a) 温度：25 ℃±3 ℃； b) 相对湿度：20 %～70 %； 环境气压：86 kPa～106 kPa。 试验的标准环境条件 若无其他规定，除电测量外的其他试验应在下列环境中进行： a) 温度：15 ℃～35 ℃； b) 相对湿度：20 %～80 %； 环境气压：86 kPa～106 kPa。 电测量仲裁环境条件 电测量的仲裁试验应在下列环境中进行： a) 温度：25 ℃±1 ℃； b) 相对湿度：48 %～52 %； 环境气压：86 kPa～106 kPa。 在环境模拟箱内的温度控制 试验温度按本文件筛选方法和程序的规定，在试验过程中，试验区域内温度的稳定度、均匀性应控制在±3 ℃之内。 筛选应满足的其他环境要求 筛选还应满足以下环境要求： a) 筛选应在无有害气体、无强电磁干扰的条件下进行； 1649—93的规定采取必要的防护措施。 筛选操作人员 操作人员应符合以下要求： 按规定参加培训，通过考核取得合格资格； 了解和掌握有关标准、规范和试验、检验的基本原理； 能熟练使用有关仪器设备，并具备基本的维护、保养知识； 能对试验结果作出正确的分析与评价。